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J-GLOBAL ID：201002206130632157   Reference number：10A0722474

Evaluation of DC Biased RF / Pulsed Atmospheric Microplasma Source for Trace Elemental Analysis

微量元素分析用高周波/パルス重畳大気圧マイクロプラズマ源の評価

Author (7)： NAGATA YOICHI (東京工業大学大学院総合理工学研究科創造エネルギー専攻) ,  MIYAHARA HIDEKAZU (東京工業大学大学院総合理工学研究科創造エネルギー専攻) ,  OBA GORO (東京工業大学大学院総合理工学研究科創造エネルギー専攻) ,  ISOBE TAKANORI (東京工業大学統合研究院) ,  SHIMADA RYUICHI (東京工業大学統合研究院) ,  HOTTA EIKI (東京工業大学大学院総合理工学研究科創造エネルギー専攻) ,  OKINO AKITOSHI (東京工業大学大学院総合理工学研究科創造エネルギー専攻)
Material： 電気学会論文誌 A  (IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials)
Volume： 130  Issue： 7  Page： 669-676 (J-STAGE)  Publication year： 2010 
JST Material Number： S0808A  ISSN： 0385-4205  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *trace element ,  *elemental analysis ,  *plasma source ,  *halogen ,  *atmospheric plasma ,  high sensitivity ,  plasma production ,  DC power source ,  *emission spectrometry ,  micro plasma

JST classification (1)： Spectroanalysis  (CC03012W)

Reference (18)：

• (1) H. Haraguchi : “Metallomics as Integrated Biometal Science”, J. Anal. At. Spectrom., Vol. 19, No. 1, pp. 5-14 (2004)
• (2) S. H. Tan and G. Horlick : “Background Spectral Features in Inductively Coupled Plasma/Mass Spectrometry”, Appl. Spectrosc., Vol. 40, No. 4 pp. 445-460 (1986)
• (3) A. Montaser, Ed. : Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry, Wiley-VCH, New York (1998)
• (4) G. Ohba, H. Miyahara, M. Watanabe, E. Hotta, and A. Okino : “Development of Microplasma Source for Trance Elemental Analysis and Its Application to AES Measurement of Halogen”, Bunseki Kagaku, Vol. 55, No. 8, pp. 555-560 (2006) (in Japanese)
• 大場吾郎・宮原秀一・渡辺正人・堀田栄喜・沖野晃俊:「微量元素分析用マイクロプラズマ源の開発とハロゲン元素の発光分析」,分析化学,55, 8, pp. 555-560 (2006)

Terms in the title (6)： 微量元素分析 ,  高周波 ,  パルス ,  重畳 ,  大気圧マイクロプラズマ ,  評価