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J-GLOBAL ID：201002219398686980   Reference number：10A1070069

Investigation of molecular surfaces with time-of-flight secondary ion mass spectrometry

時間飛行二次イオン質量分析法による分子表面の研究

Author (6)： AOYAGI Satoka (Shimane Univ., Shimane, JPN) ,  NAMEKAWA Koki (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  YAMAMOTO Kenichiro (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  SAKAI Kiyotaka (Waseda Univ., Tokyo, JPN) ,  KATO Nobuhiko (Seikei Univ., Tokyo, JPN) ,  KUDO Masahiro (Seikei Univ., Tokyo, JPN)
Material： Surface and Interface Analysis  (SIA)
Volume： 42  Issue： 10/11  Page： 1593-1597  Publication year： Oct. 2010 
JST Material Number： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *lysozyme ,  *enzyme protein ,  molecule ,  amino acid residue ,  immobilized enzyme ,  enkephalin ,  *polypeptide ,  cluster ion ,  fullerene C60 ,  surface analysis ,  *secondary ion mass spectrometry ,  TOF ,  recombination (connection) ,  Microscopy ,  atomic force microscope ,  ion source ,  *molecular surface ,  *TOF-SIMS ,  fragment ion ,  biomolecule ,  neuropeptide

JST classification (2)： Physical analysis of organic compounds  (CC03034A) ,  Proteins and peptides in general  (EB03010N)

Substance index (2)： Methionine enkephalin ,  Leucine enkephalin

Terms in the title (4)： 飛行 ,  二次イオン質量分析法 ,  分子表面 ,  研究