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J-GLOBAL ID：201002245756368716   Reference number：10A0543622

遅延故障診断に関する研究

Author (4)： TAKAHASHI HIROSHI (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  HIGAMI YOSHINOBU (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  TAKAMATSU YUZO ,  AIKYO TAKASHI (半導体理工学研究セ)
Material： 愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書
Issue： 3  Page： 18-20  Publication year： Mar. 2010 
JST Material Number： L5786B  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *fault diagnosis ,  *electronic circuit ,  failure ,  electric fault ,  model ,  test pattern ,  Computer Simulation ,  *routing ,  stuck-fault ,  prototype ,  evaluation test ,  benchmark ,  *communication operation ,  failure model ,  computer application ,  utilization ,  action and behavior
Semi thesaurus term： パステストパターン ,  フェイルテストパターン ,  fault simulation ,  *故障回路 ,  transition fault

JST classification (3)： Reliability  (KB04040H) ,  Electronic circuits in general  (NC05010N) ,  Network methods  (KA03040X)

Terms in the title (3)： 遅延故障 ,  診断 ,  研究