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J-GLOBAL ID:200901007368644970   Update date: Nov. 13, 2020

Takahashi Hiroshi

タカハシ ヒロシ | Takahashi Hiroshi
Affiliation and department:
Job title: 教授,工学部長
Homepage URL  (1): http://larissa.cs.ehime-u.ac.jp/
Research field  (1): Computer systems
Research keywords  (14): 組込みシステム ,  システムの高信頼化 ,  故障モデル.ハードウェア記述言語 ,  故障診断 ,  テスト生成 ,  ディペンダブルコンピューティング ,  情報システムの設計とテスト ,  embedded system ,  hardware description language ,  fault modeling ,  fault diagnosis ,  test generation ,  dependable computing ,  design and test for computer systems
Research theme for competitive and other funds  (18):
  • 2019 - 2022 アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究
  • 2019 - 2022 つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発
  • 2016 - 2019 Built-In Self Diagnosis for Functional Safety Assurance
  • 2016 - 2019 機能安全技術のための組込み自己診断法の開発 研究課題
  • 2013 - 2017 Timing failure diagnosis using pre-silicon test and post-silicon test
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Papers (150):
  • Yoshinobu HigamiTsutomu InamotoSenling WangHiroshi TakahashiKewal, K. Saluja. Reduction of Fault Dictionary Size by Optimizing the Order of Test Patterns Application. International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC2020). 2020
  • Xihong Zhou, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi. Ring-Oscillator Implementation for Monitoring the Aging State of Memory-based Reconfigurable Logic Device (MRLD). International Technical Conference on Circuits, Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC2020). 2020
  • Hanan T. Al-Awadhi, Tomoki Aono, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima. FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST. IEICE Transactions on Information and Systems. 2019. under review
  • Norihiro Nakaoka, Tomoki Aono, Sohshi Kudoh, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoich Maeda, Jun Matsushima. Analysis of Fault Detection Degradation Issue in Multi-cycle Test Scheme using Probabilistic Evaluation Method. Design Gaia 2019 -New Field of VLSI Design-. 2019
  • T. Aono, S. Wang, Y. Higami, H. Takahashi. Fault detection degradation analysis and countermeasure in multi-cycle test. SJCIEE. 2019
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MISC (175):
  • 中岡典弘, 青野智己, 王 森レイ, 高橋 寛, 松嶋 潤, 岩田浩幸, 前田洋一. ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価. 2020年電子情報通信学会総合大会. 2020
  • 周 細紅, 王 森レイ, 樋上 喜信, 高橋 寛. メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装. 第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会講演集. 2020
  • Tomoki Aono, Norihiro Nakaoka, Xihong Zhou, Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Iwata, Yoichi Maeda, Jun Matsushima. Control Point Insertion for Fault Detection Enhancement under Multi-cycle Testing. IEICE Technical Report. 2020. 119. 420. 19-24
  • 阿部 寛人, 畝山 勇一朗, 中岡 典弘, 渡辺 友希, 福本 真也, 森田 航平, 中本 裕大, 周 細紅, 河野 靖, 木下 浩二, et al. Raspberry Piを用いた画像処理とCNNによる微小害虫の計数システムの構築. 令和元年度電気関係学会四国支部連合大会論文集(CD-ROM). 2019
  • 志田洋, 田村晃裕, 二宮崇, 高橋寛. 機械学習を応用した軌道回路の状態基準保全に関する研究. 日本機械学会 第25回鉄道技術連合シンポジウム. 2018. 25th
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Patents (4):
Books (4):
  • Three-Dimensional Integration of Semiconductors: Processing, Materials, and Applications
    Springer 2015
  • はかる×わかる半導体 半導体テスト技術者検定3級 問題集
    日経BPコンサルティング 2014 ISBN:4864430713
  • LSIテスティングハンドブック
    オーム社 2008 ISBN:4274206327
  • 新版 論理設計入門 (情報処理基礎シリーズ)
    日新出版 2002 ISBN:4817302070
Lectures and oral presentations  (223):
  • メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装
    (第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会講演集 2020)
  • ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価
    (2020年電子情報通信学会総合大会 2020)
  • Control Point Insertion for Fault Detection Enhancement under Multi-cycle Testing
    (IEICE Technical Report 2020)
  • Raspberry Piを用いた画像処理とCNNによる微小害虫の計数システムの構築
    (令和元年度電気関係学会四国支部連合大会論文集(CD-ROM) 2019)
  • 機械学習を応用した軌道回路の状態基準保全に関する研究
    (日本機械学会 第25回鉄道技術連合シンポジウム 2018)
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Works (4):
  • 超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法に関する研究
    2009 - 2011
  • 故障励起関数に基づく高性能LSIに対する高効率故障検査ツールの開発
    2008 - 2008
  • 遅延故障診断に関する研究
    2007 - 2008
  • テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究
    2006 -
Professional career (1):
  • Dr. Eng. (Ehime University)
Committee career (6):
  • 2018/08 - 現在 一般社団法人パワーデバイス・イネーブリング協会 半導体テスト技術者検定 課題検討委員会
  • 2009/04 - 現在 IEEE アジアテストシンポジウムSC
  • 2020/06 - 2022/05 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会委員長
  • 2018/06 - 2020/06 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会副委員長
  • 2018/06 - 2020/06 情報処理学会 四国支部長
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Awards (4):
  • 2020/01 - IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award
  • 2018/07 - 日本学術振興会 特別研究員等の書面審査における貢献
  • 2016/05 - 日本信頼性学会 高木賞
  • 2012/05 - 電子情報通信学会 電子情報通信学会論文賞
Association Membership(s) (10):
RELIABILITY ENGINEERING ASSOCIATION OF JAPAN ,  IEEE Asian Test Symposium Steering Committee ,  IEEE: The Institute of Electrical and Electronics Engineers ,  情報処理学会 ,  電子情報通信学会 ,  IEEE Asian Test Symposium Steering Committee ,  IEEE: The Institute of Electrical and Electronics Engineers ,  Information Processing Society of Japan ,  Information and Communication Engineers ,  The Institute of Electornics
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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