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J-GLOBAL ID:200901007368644970   Update date: Jul. 26, 2022

Takahashi Hiroshi

タカハシ ヒロシ | Takahashi Hiroshi
Affiliation and department:
Job title: 教授,工学部長
Homepage URL  (1): http://larissa.cs.ehime-u.ac.jp/
Research field  (1): Computer systems
Research keywords  (14): 組込みシステム ,  システムの高信頼化 ,  故障モデル.ハードウェア記述言語 ,  故障診断 ,  テスト生成 ,  ディペンダブルコンピューティング ,  情報システムの設計とテスト ,  embedded system ,  hardware description language ,  fault modeling ,  fault diagnosis ,  test generation ,  dependable computing ,  design and test for computer systems
Research theme for competitive and other funds  (18):
  • 2019 - 2022 アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究
  • 2019 - 2022 つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発
  • 2016 - 2019 Built-In Self Diagnosis for Functional Safety Assurance
  • 2016 - 2019 機能安全技術のための組込み自己診断法の開発 研究課題
  • 2013 - 2017 Timing failure diagnosis using pre-silicon test and post-silicon test
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Papers (155):
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MISC (200):
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Patents (4):
Books (4):
  • Three-Dimensional Integration of Semiconductors: Processing, Materials, and Applications
    Springer 2015
  • はかる×わかる半導体 半導体テスト技術者検定3級 問題集
    日経BPコンサルティング 2014 ISBN:4864430713
  • LSIテスティングハンドブック
    オーム社 2008 ISBN:4274206327
  • 新版 論理設計入門 (情報処理基礎シリーズ)
    日新出版 2002 ISBN:4817302070
Lectures and oral presentations  (224):
  • Fault Coverage Estimation Method in Multi-Cycle Testing
    (電子情報通信学会技術研究報告(Web) 2021)
  • メモリベース論理再構成デバイス(MRLD)における劣化状態検知のためのリングオシレータ実装
    (第34回エレクトロニクス実装学会春季講演大会講演集 2020)
  • ハイブリッドテストポイント挿入法のマルチサイクルテストへの適用とその性能評価
    (2020年電子情報通信学会総合大会 2020)
  • Control Point Insertion for Fault Detection Enhancement under Multi-cycle Testing
    (IEICE Technical Report 2020)
  • Raspberry Piを用いた画像処理とCNNによる微小害虫の計数システムの構築
    (令和元年度電気関係学会四国支部連合大会論文集(CD-ROM) 2019)
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Works (4):
  • 超高信頼性チップ製造のためのシグナルインティグリティ不良のモデル化およびその故障検査法に関する研究
    2009 - 2011
  • 故障励起関数に基づく高性能LSIに対する高効率故障検査ツールの開発
    2008 - 2008
  • 遅延故障診断に関する研究
    2007 - 2008
  • テストチップの製作とその解析に基づく製造容易化設計のための新故障モデルとそのテスト・故障診断に関する研究
    2006 -
Professional career (1):
  • Dr. Eng. (Ehime University)
Committee career (9):
  • 2020/04 - 現在 エレクトロニクス実装学会 マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文委員会委員
  • 2018/08 - 現在 一般社団法人パワーデバイス・イネーブリング協会 半導体テスト技術者検定 課題検討委員会
  • 2018/06 - 現在 日本信頼性学会 評議員
  • 2009/04 - 現在 IEEE アジアテストシンポジウムSC
  • 2020/06 - 2022/05 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会委員長
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Awards (4):
  • 2020/01 - IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award
  • 2018/07 - 日本学術振興会 特別研究員等の書面審査における貢献
  • 2016/05 - 日本信頼性学会 高木賞
  • 2012/05 - 電子情報通信学会 電子情報通信学会論文賞
Association Membership(s) (10):
RELIABILITY ENGINEERING ASSOCIATION OF JAPAN ,  IEEE Asian Test Symposium Steering Committee ,  IEEE: The Institute of Electrical and Electronics Engineers ,  情報処理学会 ,  電子情報通信学会 ,  IEEE Asian Test Symposium Steering Committee ,  IEEE: The Institute of Electrical and Electronics Engineers ,  Information Processing Society of Japan ,  Information and Communication Engineers ,  The Institute of Electornics
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in researchmap. For details, see here.

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