Rchr
J-GLOBAL ID:200901080862730412
Update date: Dec. 06, 2024
Higami Yoshinobu
ヒガミ ヨシノブ | Higami Yoshinobu
Research field (1):
Communication and network engineering
Research keywords (2):
計算機工学
, Computer Engineering
Research theme for competitive and other funds (14):
- 2023 - 2026 Field Testing for Structure-Oriented Computing Architectures
- 2022 - 2025 メモリ型再構成エッジデバイスにおける高信頼性知的処理機能の設計法に関する研究
- 2019 - 2023 つながるデバイスのフィールドテストのための信頼性強化設計法の開発
- 2019 - 2023 アダプティブ故障診断における故障診断時間の短縮に関する研究
- 2016 - 2020 Research on Test and Diagnosis for Delay Faults by Accurate Delay Fault Simulator
- 2016 - 2019 Built-In Self Diagnosis for Functional Safety Assurance
- 2013 - 2017 Timing failure diagnosis using pre-silicon test and post-silicon test
- 2013 - 2016 Study on test and diagnosis for defects on vias in 3D-LSIs
- 2010 - 2012 Development of methods for testing and diagnosing faults on clock lines in system LSIs
- 2007 - 2009 Research on High Dependable Test for Crosstalk Faults in High Speed VLSIs
- 2006 - 2008 Development of Soft/Hard Co-Test Method for Embedded Systems
- 2003 - 2005 Study on Built-in Self Test and Fault Diagnosis for Very High Speed and Deep Sub-micron VLSIs
- 論理回路の設計とテストに関する研究
- Study on Design and Test of Digital Circuits
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Papers (159):
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Senling Wang, Shaoqi Wei, Hisashi Okamoto, Tatusya Nishikawa, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroyuki Yotsuyanagi, Ruijun Ma, Tianming Ni, Hiroshi Takahashi, et al. Test Point Selection for Multi-Cycle Logic BIST using Multivariate Temporal-Spatial GCNs. 2024 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia). 2024. 1-6
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Kenta Sasagawa, Senling Wang, Tetsuya Nishikawa, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tianming Ni, Xiaoqing Wen. Deep-BMNN: Implementing Sparse Binary Neural Networks in Memory-Based Reconfigurable Processor (MRP). 2024 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC). 2024. 1-6
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Yoshinobu Higami, Tsutomu Inamoto, Senling Wang, Hiroshi Takahashi, Kewal K. Saluja. Diagnosis of Double Faults Consisting of a Stuck-at Fault and a Transition Fault. Proc. Int. Technical Conf. on Circuits/Systems, Computers and Communications. 2024
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Xihong ZHOU, Senling WANG, Yoshinobu HIGAMI, Hiroshi TAKAHASHI. Testing and Delay-Monitoring for the High Reliability of Memory-based Programmable Logic Device. IEICE TRANSACTIONS on Information and Systems. 2023. E106-D. 10
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Senling Wang, Shaoqi Wei, Jun Ma, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Akihiro Shimizu, Xiaoqing Wen, Tianming Ni. SASL-JTAG: A Light-Weight Dependable JTAG. DFT. 2023. 1-3
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MISC (316):
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塩谷晃平, 西川竜矢, WEI Shaoqi, WANG Senling, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛. Test Point Selection Method for Multi-Cycle BIST Using Deep Reinforcement Learning. 電子情報通信学会技術研究報告(Web). 2024. 123. 389(DC2023 94-103)
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WEI Shaoqi, 塩谷晃平, WANG Senling, 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛. Test Point Selection Method Using Graph Neural Networks and Deep Reinforcement Learning. 電子情報通信学会技術研究報告(Web). 2023. 122. 393(DC2022 82-92)
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中野潤平, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛. Test pattern reduction through multi-cycle testing. 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM). 2022. 2022
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山内崇矢, 稲元勉, WANG S., 樋上喜信, 高橋寛. Fault Diagnosis of Multiple Fault Models Using Machine Learning. 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM). 2021. 2021
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神崎壽伯, WANG S., 甲斐博, 樋上喜信, 高橋寛. Fault Diagnosis Pattern Generation by Function Operation under Multi-cycle. 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM). 2021. 2021
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Patents (3):
Books (2):
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Three-Dimensional Integration of Semiconductors
Springer 2016
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LSIテスティングハンドブック
オーム社 2008
Lectures and oral presentations (23):
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Fault Simulation using Hazard Signals and Its Application to Fault Diagnosis for Delay Faults
(Int. Conf. for Top and Emerging Computer Scientists 2017)
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Test Generation Methods for Delay Faults on Clock Lines
(The 3rd Int. Conf. on Fuzzy Systems and Data Mining 2017)
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双方向通信を利用した赤潮予測のための「水産コミュニケーションシステム」開発に関する研究
(日本水産学会大会講演要旨集 2016)
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エクスターナルグリッドに対する依存関係を利用した不正解析のリスクを軽減する手法
(情報処理学会全国大会講演論文集 2016)
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赤潮や魚病の発生予測の為の海域情報収集支援システムの開発
(情報処理学会全国大会講演論文集 2016)
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Works (2):
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順序回路に対するテスト系列生成とテスト容易化設計に関する研究
1991 -
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Test Generation and Design for Testability for Sequential Circuits
1991 -
Committee career (5):
- 1999/05 - 2017/05 電子情報通信学会 査読委員
- 2014/04 - 2017/03 情報処理学会 Transactions on System LSI Design Methogology編集委員
- 2015/01 - 2016/12 IEEE Shikoku Section Professional Activity Chair
- 2011/05 - 2015/05 電子情報通信学会 英文誌A編集委員
- 2007/05 - 2011/05 電子情報通信学会 英文誌D編集委員
Awards (4):
- 2016/06 - 日本信頼性学会 日本信頼性学会高木賞
- 2014/07 - IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI Best Paper Award
- 2012/05 - 電子情報通信学会 電子情報通信学会論文賞
- 2005/05 - 電子情報通信学会 電子情報通信学会論文賞
Association Membership(s) (3):
電気電子学会(IEEE)
, 情報処理学会
, 電子情報通信学会
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