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J-GLOBAL ID:201003047212496777

テラヘルツ放射の発生方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 葛和 清司
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2009553644
Publication number (International publication number):2010521815
Application date: Mar. 14, 2008
Publication date: Jun. 24, 2010
Summary:
差周波数発生(DFG)による放射の発生方法および装置。例示的な一実現例においては、量子カスケードレーザー(QCL)は、QCLの活性領域に組み込まれる、有効な2次非線形感受率χ(2)を有する。QCLは、非線形感受率から生じる差周波数発生(DFG)に基づいて、第1の周波数ω1において第1の放射、第2の周波数ω2において第2の放射、および第3の周波数ω3=ω1-ω2において第3の放射を発生するように、構成される。1つの観点において、QCLは、室温においてかなりのTHz放射を発生するように構成してもよい。
Claim (excerpt):
量子カスケードレーザーの活性領域に組み込まれる有効な2次非線形感受率(χ(2))を有する量子カスケードレーザー(QCL)であって、第1の周波数ω1における第1の放射、第2の周波数ω2における第2の放射、および第3の周波数ω3=ω1-ω2における第3の放射を、非線形感受率から生じる差周波数発生(DFG)に基づいて発生するように構成されている前記QCLを含む、装置。
IPC (2):
H01S 5/343 ,  G02F 1/377
FI (2):
H01S5/343 ,  G02F1/377
F-Term (16):
2K002AB12 ,  2K002BA01 ,  2K002CA13 ,  2K002CA22 ,  2K002DA05 ,  2K002EA28 ,  2K002FA04 ,  2K002FA05 ,  2K002GA10 ,  2K002HA19 ,  5F173AF06 ,  5F173AH30 ,  5F173AP05 ,  5F173AP09 ,  5F173AR99 ,  5F173AS05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
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