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J-GLOBAL ID：201003060014946755

高周波材料定数測定システム

Inventor： 駒木根 隆士 ,  黒澤 孝裕 ,  井上 浩 ,  宮永 和明
Applicant, Patent owner： 国立大学法人秋田大学
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009044983
Publication number (International publication number)：2010197316
Application date： Feb. 27, 2009
Publication date： Sep. 09, 2010
Summary：

【課題】波長に比べて十分に小さな寸法の被測定試料の誘電率などの材料特性を,広帯域の周波数について,機械的な加工精度の厳しい要求なしに,簡便に計測できる高周波材料定数測定システムを提供すること。【解決手段】自由空間において,送信アンテナにより発生した任意の周波数の既知の強度の放射電界中に被測定試料を設置し,その誘電分極により生じる散乱波電界を,遠方の既知の距離に設置した受信アンテナにより計測する。その散乱波による電界強度が,散乱体である被測定試料の誘電率と一意に定まる関係にあることを用いて,試料の高周波誘電率を推定する。【選択図】 図2

Claim (excerpt)：

放射電磁界の発生機構を持ち,発生した放射電磁界中に設置した被測定試料から散乱する散乱波電磁界を計測することにより被測定試料の材料定数を測定することを特徴とする高周波材料定数測定システム。

IPC (2)：

G01N 22/00 ,  G01R 27/26

FI (3)：

G01N22/00 Y ,  G01R27/26 H ,  G01N22/00 U

F-Term (3)：

2G028CG09 ,  2G028DH11 ,  2G028DH15

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• マイクロ波散乱計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-094793   Applicant：アジア航測株式会社
• 特開昭62-066145
  
• 自由空間法電磁波測定システムおよびその評価方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-088456   Applicant：株式会社フジタ
• 電子機器用試験箱
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-266547   Applicant：日本軽金属株式会社

Cited by examiner (4)

• マイクロ波散乱計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-094793   Applicant：アジア航測株式会社
• 特開昭62-066145
  
• 自由空間法電磁波測定システムおよびその評価方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-088456   Applicant：株式会社フジタ
• 電子機器用試験箱
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-266547   Applicant：日本軽金属株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 「誘電体散乱球を用いた電磁界計測手法」
• 「電磁波の散乱・吸収計測技術の現状と課題」

Cited by examiner (1)

• 「誘電体散乱球を用いた電磁界計測手法」