Pat
J-GLOBAL ID:201003064868805930

電磁界解析プログラムおよび電磁界解析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 山▲崎▼ 薫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008245727
Publication number (International publication number):2010079503
Application date: Sep. 25, 2008
Publication date: Apr. 08, 2010
Summary:
【課題】FDTD法の利用にあたって高い精度で集束光を再現することができる電磁界解析プログラムおよび電磁界解析装置を提供する。【解決手段】仮想三次元空間CO内で電界特性および磁界特性の三次元分布を特定する計算モデルを構築する。仮想三次元空間CO内で波源SOを特定する。仮想三次元空間CO内に区画されて相互に隣接する単位セルごとに、有限差分時間領域法に基づき、現時刻の電磁界の空間分布に基づき次時刻の電磁界の空間分布を算出する。空間分布の算出にあたって、所定の励振振幅に基づき波源SOで電界の励振を確立する。励振振幅の算出にあたって、集束光の光線に垂直な電界成分の波源面への投射に基づき集束光の電界振幅を補正し、補正した電界振幅に基づきフラウンホーファー回折の算出式を計算する。高い精度で電磁界の空間分布は再現されることができる。【選択図】図5
Claim (excerpt):
仮想三次元空間内で電界特性および磁界特性の三次元分布を特定する計算モデルを構築する手順と、前記仮想三次元空間内で波源を特定する手順と、前記仮想三次元空間内に区画されて相互に隣接する単位セルごとに、有限差分時間領域法に基づき、現時刻の電磁界の空間分布に基づき次時刻の電磁界の空間分布を算出する手順と、前記空間分布の算出にあたって、所定の励振振幅に基づき波源で電界の励振を確立する手順と、前記励振振幅の算出にあたって、集束光の光線に垂直な電界成分の波源面への投射に基づき集束光の電界振幅を補正する手順と、補正した電界振幅に基づきフラウンホーファー回折の算出式を計算し、その結果に基づき前記励振振幅を算出する手順とをコンピューターに実行させることを特徴とする電磁界解析プログラム。
IPC (2):
G06F 17/50 ,  G01R 29/08
FI (3):
G06F17/50 612H ,  G01R29/08 Z ,  G06F17/50 680A
F-Term (1):
5B046JA10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

Return to Previous Page