Pat
J-GLOBAL ID:201103017565536595
粒子観察装置
Inventor:
,
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
三好 秀和
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 伊藤 正和
, 高橋 俊一
, 高松 俊雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010004029
Publication number (International publication number):2011145094
Application date: Jan. 12, 2010
Publication date: Jul. 28, 2011
Summary:
【課題】移動する粒子を容易に観察可能な粒子観察装置を提供する。【解決手段】粒子観察装置1は、粒子91にレーザ光Lbを照射する光照射部3と、光照射部3からのレーザ光Lbが照射された粒子91を撮像する撮像部5と、撮像部5により撮像された粒子91の画像を解析する画像解析装置6と、粒子91を移動させるための粒子移動部4と、画像解析装置6によって解析された画像解析情報に基づいて、粒子移動部4を制御する粒子移動制御部37とを備える。【選択図】図1
Claim (excerpt):
粒子に光を照射する光照射手段と、
前記光照射手段からの光が照射された前記粒子を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された粒子の画像を解析する画像解析手段と、
前記粒子を移動させるための粒子移動手段と、
前記画像解析手段によって解析された画像解析情報に基づいて、前記粒子移動手段を制御する粒子移動制御手段とを備えることを特徴とする粒子観察装置。
IPC (1):
FI (1):
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
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光誘起誘電泳動装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-162824
Applicant:国立大学法人京都大学
-
析出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-223115
Applicant:クラスターテクノロジー株式会社, 八尾健
-
粒子および電磁放射線の検出、測定および制御
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2007-545990
Applicant:オーストラロ・リミテッド
-
粒子形状等の測定方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-010706
Applicant:工業技術院長
-
位置決め装置および位置決め方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-049907
Applicant:樋口俊郎, 駿河精機株式会社
-
電界ケージ内において微小粒子を形成する方法およびそのための装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平7-522065
Applicant:フラウンホーファーゲゼルシャフトツールフェルデルングデァアンゲヴァンテンフォルシュングエーファウ
-
磁気勾配下液中微粒子磁気トラップ分離方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-278023
Applicant:大阪大学長
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Cited by examiner (7)
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光誘起誘電泳動装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-162824
Applicant:国立大学法人京都大学
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析出方法
Gazette classification:公開公報
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Applicant:クラスターテクノロジー株式会社, 八尾健
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磁気勾配下液中微粒子磁気トラップ分離方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-278023
Applicant:大阪大学長
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粒子および電磁放射線の検出、測定および制御
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2007-545990
Applicant:オーストラロ・リミテッド
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粒子形状等の測定方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-010706
Applicant:工業技術院長
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位置決め装置および位置決め方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-049907
Applicant:樋口俊郎, 駿河精機株式会社
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電界ケージ内において微小粒子を形成する方法およびそのための装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平7-522065
Applicant:フラウンホーファーゲゼルシャフトツールフェルデルングデァアンゲヴァンテンフォルシュングエーファウ
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