分光器、及び、それを備えた光学装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：大菅義之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009289198
Publication number (International publication number)：2011128108
Application date： Dec. 21, 2009
Publication date： Jun. 30, 2011
Summary：

【課題】入射光の方向と射出光の基準方向を平行に維持しつつ、コンパクトな構成で高い分散角と高い光の利用効率を実現する技術を提供することを課題とする。【解決手段】分光器11は、直視プリズム15で屈折により波長毎に光を分散させて、分散した光を反射部材(16、17)で反射して、再度、直視プリズム15で屈折させる。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

光の屈折により波長毎に光を分散させる直視プリズムと、前記直視プリズムで分散した光を反射する反射部材と、を含み、前記直視プリズムは、前記反射部材を反射した光を、屈折させることを特徴とする分光器。

IPC (2)：

G01J 3/14 , G02B 5/04

FI (2)：

G01J3/14 , G02B5/04 C

F-Term (24)：

2G020AA04 , 2G020CA01 , 2G020CC14 , 2G020CC16 , 2G020CC26 , 2G020CC52 , 2G020CD03 , 2G020CD14 , 2G020CD22 , 2G043AA03 , 2G043EA01 , 2G043FA02 , 2G043GA04 , 2G043GB28 , 2G043HA01 , 2G043HA02 , 2G043HA09 , 2G043JA02 , 2G043JA05 , 2G043KA02 , 2G043LA01 , 2H042CA07 , 2H042CA14 , 2H042CA17

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

特開昭49-075346
特開昭58-205824
エシェルスペクトロメータの波長較正のためのアセンブリおよび方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2003-566507 Applicant：ゲゼルシャフト・ツア・フェルデルング・アンゲバンター・オプティック,オプトエレクトローニック,クバンテンエレクトローニック・ウント・スペクトロスコピー・アインゲトラーゲナー・フェアアイン, ゲゼルシャフト・ツア・フェルデルング・デア・スペクトロヒェミー・ウント・アンゲバンテン・スペクトロスコピー・アインゲトラーゲナー・フェアアイン

Show all

Cited by examiner (6)

特開昭49-075346
特開昭58-205824
エシェルスペクトロメータの波長較正のためのアセンブリおよび方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2003-566507 Applicant：ゲゼルシャフト・ツア・フェルデルング・アンゲバンター・オプティック,オプトエレクトローニック,クバンテンエレクトローニック・ウント・スペクトロスコピー・アインゲトラーゲナー・フェアアイン, ゲゼルシャフト・ツア・フェルデルング・デア・スペクトロヒェミー・ウント・アンゲバンテン・スペクトロスコピー・アインゲトラーゲナー・フェアアイン

Show all

Return to Previous Page