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J-GLOBAL ID:201103038449135602
ポリ塩化ジベンゾ-p-ダイオキシン又は/及びポリ塩化ジベンゾフランの微量分析法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2003059070
Publication number (International publication number):2004271242
Patent number:4194081
Application date: Mar. 05, 2003
Publication date: Sep. 30, 2004
Claim (excerpt):
【請求項1】 ポリ塩化ジベンゾ-p-ダイオキシン又は/及びポリ塩化ジベンゾフランの微量分析法において、下記の操作工程:
1)あらかじめ微粉末状導電性カーボンブラックを500〜700°Cの温度で30分前後加熱してπ電子を持った縮合ベンゼン環からなる結晶子及び一次粒子の隙間に残っている不純物を完全に除去して、ダイオキシン類の特異的吸着性、及びトルエンなど2次溶媒によるダイオキシン類の溶離性の両者を向上させる処理を行った後、シリカゲル1に対し、該微粉末状導電性カーボンブラックを1〜10%重量比で混合して吸着剤を生成する工程、
2)カラムクロマト管内に石英ウール、無水硫酸ナトリウム、上記吸着剤及び無水硫酸ナトリウムの順に充填してカラムクロマト管を作成する工程、
3)上記カラムクロマト管をフラクションコレクターにセットし、分析試料を流下させる工程、
4)試料流下後30分静置して、上記カラムにダイオキシンを吸着させる工程、
5)30分静置後、25%ジクロロメタン/ヘキサン200mlで溶出させ、フラクションコレクターで分画する工程、
6)上記25%ジクロロメタン/ヘキサン200mlの溶出終了後、トルエン200mlで溶出し、同様にフラクションコレクターで分画する工程、
7)分画終了後、25%ジクロロメタン/ヘキサンで溶出した分画液は2mlのイソオクタンを加えた後、窒素により25%ジクロロメタン/ヘキサンを蒸発させるとともに、抽出した成分をイソオクタンに転溶する工程、及び
8)分画液に内部標準物質として9,10-ジクロロアントラセン135ppmを0.27ppmになるように加えてGC/ECDで測定する工程、
を含むことを特徴とする分析法。
IPC (6):
G01N 30/88 ( 200 6.01)
, B01J 20/20 ( 200 6.01)
, B01J 20/34 ( 200 6.01)
, G01N 30/08 ( 200 6.01)
, G01N 30/70 ( 200 6.01)
, G01N 30/80 ( 200 6.01)
FI (8):
G01N 30/88 X
, G01N 30/88 101 J
, B01J 20/20 B
, B01J 20/20 D
, B01J 20/34 D
, G01N 30/08 L
, G01N 30/70
, G01N 30/80 D
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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Article cited by the Patent:
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