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J-GLOBAL ID：201103044419806596

質量分析計及び質量分析方法

Inventor：
プリングル・スティーブン・デレク

About プリングル・スティーブン・デレク


Applicant, Patent owner：
マイクロマス・ユーケイ・リミテッド

About マイクロマス・ユーケイ・リミテッド


Agent (1)： 特許業務法人明成国際特許事務所
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2010535454
Publication number (International publication number)：2011505656
Application date： Dec. 01, 2008
Publication date： Feb. 24, 2011
Summary：
【解決手段】ガス電子増幅イオン検出器を備える質量分析計を開示する。イオン検出器は、3段構造のガス電子増幅段GEM1、GEM2、GEM3を備え、対向電極(12)が第1の電子増幅段GEM1に隣接して配置される。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
質量分析計であって、 ガス電子増幅イオン検出器を備える、 質量分析計。
IPC (6)：
H01J 49/06 ,  H01J 49/40 ,  H01J 43/06 ,  G01N 27/62 ,  G01N 27/64 ,  G01N 27/68
FI (11)：
H01J49/06 ,  H01J49/40 ,  H01J43/06 ,  G01N27/62 G ,  G01N27/64 B ,  G01N27/64 C ,  G01N27/68 ,  G01N27/64 A ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 L ,  G01N27/62 H
F-Term (22)：
2G041CA01 ,  2G041CA04 ,  2G041DA02 ,  2G041DA03 ,  2G041DA04 ,  2G041DA05 ,  2G041DA07 ,  2G041DA09 ,  2G041DA12 ,  2G041DA13 ,  2G041DA14 ,  2G041DA16 ,  2G041DA18 ,  2G041GA02 ,  2G041GA03 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041KA01 ,  2G088EE29 ,  2G088FF10 ,  2G088GG01 ,  5C038FF04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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