Pat
J-GLOBAL ID:201103046508994935
検出及び測距方法及びシステム
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6):
辻居 幸一
, 熊倉 禎男
, 大塚 文昭
, 西島 孝喜
, 須田 洋之
, 上杉 浩
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2010538303
Publication number (International publication number):2011506979
Application date: Dec. 19, 2008
Publication date: Mar. 03, 2011
Summary:
検出された光の光学信号を取得し、蓄積されたデジタル・トレースを生成するためのシステム及び方法が提供される。この方法は、視野の照明のための光源と、光検出器と、アナログ・デジタル変換器(ADC)とを設け、視野内に光源から1つのパルスを放出し、光検出器によりパルスの反射信号を検出し、ADCにより検出された反射信号のj点を取得し、バッファ内にj点のデジタル信号波形を格納し、2π/Pの位相シフトを導入し、バッファ内に、放出し、検出し、取得し、格納し、導入するステップをP回繰り返して、P×j点のインターリーブされた波形を格納し、Nが放出されたパルスの総数であるものとして、合計N=M×P個の取得セットについてのインターリーブされたP×j点のM個のトレースを蓄積し、M個のトレースの各点を加算することにより、j×P点の反射信号の1つの結合されたトレースを生成するステップを含む。さらに、結合されたトレースをパルスの検出された基準反射信号と比較して、パルスが移動した距離を求めることができる。【選択図】図17
Claim (excerpt):
検出された光の光学信号を取得し、蓄積されたデジタル・トレースを生成するための方法であって、前記方法は、
視野の照明のための光源と、
光検出器と、
FHzのサンプルレートとBビットの分解能とを有するアナログ・デジタル変換器(ADC)と、
を準備するステップと、
前記視野内に前記光源から1つのパルスを放出するステップと、
前記光検出器により前記パルスの反射信号を検出するステップと、
1/F秒ごとにj点の1つを取得することによって、前記ADCにより、前記検出された反射信号についてのj点を取得し、前記光反射信号をj点のデジタル信号波形に変換するステップと、
前記j点のデジタル信号波形をバッファ内に格納するステップと、
前記光パルスの前記放出と前記ADCによる前記j点の取得の開始との間に2π/Pの位相シフトを導入するステップと、
前記放出するステップ、前記検出するステップ、前記取得するステップ、前記格納するステップ、前記導入するステップをP回繰り返して、1/(F×P)秒の時間分解能による単一の取得に等しい、P×j点のインターリーブされた波形を前記バッファ内に格納するステップと、
Nが放出されたパルスの総数であるものとして、合計N=M×P個の取得セットについてのインターリーブされたP×j個の点のM個のトレースを蓄積するステップと、
前記N個のセットを用いて、点ごとに前記M個のトレースの各点を加算することにより前記反射信号の1つの結合されたトレースを生成し、j×P点の1つの蓄積されたデジタル・トレースを生成するステップであって、前記結合されたトレース内の各点は、M=N/P個のセットの蓄積であり、該結合されたトレースの有効時間分解能は、1/(F×P)秒である、ステップと、
を含み、
前記バッファの長さは少なくともj×Pであり、前記バッファ内の各要素のビット数はB+2Mであり、
前記ADCの前記サンプルレートを事実上増加することにより、低いサンプルレートFを有する低価格のADCを用いることが可能になることを特徴とする方法。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (10):
5J084AA05
, 5J084AB14
, 5J084AD01
, 5J084AD02
, 5J084BA08
, 5J084BA19
, 5J084CA03
, 5J084CA10
, 5J084CA49
, 5J084EA01
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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特開平4-145391
-
パルスベースのインピーダンス測定器および複素インピーダンスを測定するためのパルスベースの方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-264320
Applicant:フルーク・コーポレイション
-
高精度の距離測定装置およびその方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2005-504465
Applicant:マンロジェームスエフ.
-
特開平4-145390
-
光学式測距装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-313784
Applicant:シャープ株式会社
-
特開平4-172285
-
パルス光時間間隔計測方式およびパルス光時間間隔計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-328709
Applicant:日本電気株式会社
-
背景雑音除去装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-332182
Applicant:沖電気工業株式会社
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