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J-GLOBAL ID：201103050771139796

癌の再発リスク判定方法

Inventor： 柴山 正樹 ,  石原 英幹 ,  合田 圭吾 ,  中山 智 ,  木庭 唯
Applicant, Patent owner： シスメックス株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010079197
Publication number (International publication number)：2011209220
Application date： Mar. 30, 2010
Publication date： Oct. 20, 2011
Summary：

【課題】 従来より信頼性の高い癌の再発リスク判定方法を提供することを課題とする。【解決手段】癌患者から摘出された組織に含まれる細胞の第1のサイクリン依存性キナーゼ(CDK)の活性値と発現量、第2のCDKの活性値と発現量、及びKi67の発現細胞数又は発現量を取得し、取得した第1CDKの活性値と発現量、第2CDKの活性値と発現量、及びKi67の発現細胞率又は発現量に基づいて癌の再発リスクを判定することにより、上記課題を解決する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

癌患者から摘出された組織に含まれる細胞の第1のサイクリン依存性キナーゼ(CDK)の活性値と発現量、第2のCDKの活性値と発現量、及びKi67の発現細胞数又は発現量を取得し、 取得した第1CDKの活性値と発現量、第2CDKの活性値と発現量、及びKi67の発現細胞率又は発現量に基づいて癌の再発リスクを判定することを特徴とする、癌の再発リスク判定方法。

IPC (5)：

G01N 33/53 ,  C12Q 1/02 ,  C12Q 1/48 ,  G01N 33/574 ,  G01N 33/573

FI (7)：

G01N33/53 D ,  C12Q1/02 ,  C12Q1/48 Z ,  G01N33/574 A ,  G01N33/53 Y ,  G01N33/573 A ,  G01N33/574 D

F-Term (4)：

4B063QA01 ,  4B063QQ27 ,  4B063QS33 ,  4B063QX02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 癌の再発リスクを判定する方法及び癌の再発リスク診断の支援方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2008-086212   Applicant：シスメックス株式会社
• 生検腫瘍組織での遺伝子発現プロファイリング
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2003-576654   Applicant：ジェノミックヘルス,インコーポレイテッド
• 形成異常の改善された診断方法
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2005-501536   Applicant：エムティーエムラボラトリーズアクチェンゲゼルシャフト, ダコ-サイトメーションデンマークエーエス
• がんの再発リスクの判定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-264613   Applicant：シスメックス株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• Correlation between Proliferation Markers:PCNA,Ki-67,MCM-2 and Antiapoptotic Protein Bcl-2 in Colore