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J-GLOBAL ID：201103070479484505

光学粒子計数器を較正検証するためのシステム及び方法

Inventor：
ベイツ, トーマス

About ベイツ, トーマス


Applicant, Patent owner：
パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド

About パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド


Agent (4)： 山田 行一 ,  池田 成人 ,  山口 和弘 ,  野田 雅一
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2010534241
Publication number (International publication number)：2011503622
Application date： Nov. 14, 2008
Publication date： Jan. 27, 2011
Summary：
気体又は液体粒子計数器の較正状態を検証するための、持ち運び可能であり電力消費が小さい光学粒子計数器較正検証システム、及び信頼性が高く感度の良い方法が本明細書に記載される。本発明に記載する較正検証システムは、光学粒子計数器の使用場所で光学粒子計数器の較正状態を迅速に決定するため、及び推奨される較正スケジュールにおいて示唆される前に、光学粒子計数器を再較正する必要があるかどうかをエンドユーザが判断できるようにするために有用である。【選択図】 図4
Claim (excerpt)：
光学粒子計数器の較正状態を検証するための較正検証システムであって、 予め選択されたサイズ分布を有する粒子を光学粒子計数器に提供するための粒子発生器と、 前記予め選択されたサイズ分布を有する前記粒子に関するパルス高さ分布を測定するための、前記光学粒子計数器に動作可能に接続されたパルス高さ分析器と、 1つの較正検証パラメータ又は1組の較正検証パラメータを決定し、前記1つの較正検証パラメータ又は1組の較正検証パラメータを1つ又は複数の基準値と比較することによって前記パルス高さ分布を分析するための、前記パルス高さ分析器に動作可能に接続された較正検証分析器と を具備する較正検証システム。
IPC (2)：
G01N 15/02 ,  G01N 15/00
FI (2)：
G01N15/02 A ,  G01N15/00 C
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
  • 粒径分布測定装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-284575   Applicant：株式会社堀場製作所
  • 寸法制御粒子を含む流体流の形成方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-121505   Applicant：レール・リキード・ソシエテ・アノニム・プール・レテュード・エ・レクスプロワタシオン・デ・プロセデ・ジョルジュ・クロード
  • 空中浮遊病原体検出システム及び方法
    Gazette classification：公表公報   Application number：特願2005-507651   Applicant：ハンブルガー,ロベルト,エヌ.
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