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J-GLOBAL ID：201103076997338049
予測誤差評価装置及び予測誤差評価方法及び予測誤差評価プログラム
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
溝井 章司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009248478
Publication number (International publication number)：2011095946
Application date： Oct. 29, 2009
Publication date： May. 12, 2011
Summary：
【課題】予測値と実測値との誤差が、観測対象となる現象の属性値の系列との関係で(例えば、時系列的に)どのように変化するかを考慮して、誤差を評価できるようにする。【解決手段】予測誤差評価装置10は、誤差データを日付と対応付けて予め記憶装置に記憶する。誤差データは、電力消費量の予測値と実測値との誤差を示すデータである。統計処理部11は、記憶装置に記憶された日付の系列にて、1つの部分系列と、当該部分系列の先頭と末尾とを所定の数ずつずらして得られる複数の部分系列とを処理対象系列とする。そして、統計処理部11は、処理対象系列ごとに、処理対象系列に含まれる日付に対応する誤差データを記憶装置から読み取る。統計処理部11は、処理対象系列ごとに、読み取った誤差データの平均や分散を算出し、これらを基に誤差の分布の近似曲線を求める。結果出力部12は、この近似曲線を画面に表示する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
所定の現象の属性値ごとに前記現象を観測して得られると予測された予測値と、前記現象の属性値が変化する度に前記現象を観測して得られた実測値との誤差を示す誤差データを、前記現象の属性値と対応付けて予め記憶する記憶装置を具備するとともに、
前記記憶装置に記憶された属性値の系列にて、1つの部分系列と、当該部分系列の先頭と末尾との少なくともいずれかを所定の数ずつずらして得られる複数の部分系列とを処理対象系列とし、処理対象系列ごとに、処理対象系列に含まれる属性値に対応する誤差データを記憶装置から読み取り、読み取った誤差データに対して所定の統計処理を処理装置により実行する統計処理部と、
前記統計処理部により実行された統計処理の結果を出力装置により出力する結果出力部とを備えることを特徴とする予測誤差評価装置。
IPC (1)：
FI (1)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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Article cited by the Patent：
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