計測システム、画像補正方法、及びコンピュータプログラム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：國分孝悦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009298746
Publication number (International publication number)：2011137753
Application date： Dec. 28, 2009
Publication date： Jul. 14, 2011
Summary：

【課題】照明系及び撮像系の双方の測定対象物との位置関係が可変である場合の撮像画像による3次元計測を正確に行う。【解決手段】照明系101の偏角、撮像系102の偏角を考慮して輝度を補正した場合に想定される空間変調器上の輝度分布(照明系101と撮像系102の双方を考慮した輝度分布補正値)を生成する。この輝度分布補正値と、位置関係に起因しない静的な輝度分布補正値とから、3次元計測システムにおける輝度分布の補正値を生成し、この輝度分布の補正値に基づいて、照明パターン画像の階調変換をし、階調変換した照明パターン画像に従った照明を行う。また、動径の情報と、測定対象物103の反射率とを基に、3次元システムの光量減衰率を求め、この3次元システムの光量減衰率と、基準とする光量減衰率との比較結果から、光源の強度を調整する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

測定対象物に照明光を照射する照明手段と、前記照明手段の動作を制御する照明制御手段と、測定対象物からの反射光または透過光を撮像する撮像手段と、前記撮像手段の動作を制御する撮像制御手段と、前記照明手段および前記撮像手段の、前記測定対象物との位置関係を示す位置関係情報を取得する取得手段と、前記位置関係情報に基づき、前記照明手段による照明光と、前記撮像手段で撮像された画像とのうち、少なくともいずれか一方の輝度を補正して、前記撮像手段で撮像された前記測定対象物の画像の輝度変化を補正する補正手段と、を有し、前記測定対象物と前記照明手段と前記撮像手段とのうち、少なくとも二つの位置が可変であることを特徴とする計測システム。

IPC (3)：

G01B 11/25 , H04N 5/232 , G06T 1/00

FI (3)：

G01B11/25 H , H04N5/232 Z , G06T1/00 315

F-Term (42)：

2F065AA04 , 2F065EE00 , 2F065FF04 , 2F065FF41 , 2F065FF44 , 2F065HH15 , 2F065JJ05 , 2F065JJ19 , 2F065JJ26 , 2F065MM01 , 2F065NN01 , 2F065QQ24 , 2F065QQ31 , 2F065QQ41 , 5B057AA20 , 5B057CA08 , 5B057CA13 , 5B057CA16 , 5B057CB08 , 5B057CB13 , 5B057CB16 , 5B057CC01 , 5B057CE11 , 5B057DA07 , 5B057DA20 , 5B057DB03 , 5B057DB09 , 5B057DC09 , 5B057DC16 , 5B057DC32 , 5C122DA13 , 5C122DA27 , 5C122EA06 , 5C122FA04 , 5C122FA18 , 5C122FB17 , 5C122FH01 , 5C122FH11 , 5C122GG17 , 5C122HA35 , 5C122HA40 , 5C122HB01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特開昭62-161004
三次元計測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-359848 Applicant：シーケーディ株式会社
パターン投影装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-096068 Applicant：新日本製鐵株式会社

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