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J-GLOBAL ID:201103099634484434

X線CT画像処理方法,X線CTプログラムおよび該プログラムが搭載されたX線CT装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 特許業務法人グローバル知財
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010022623
Publication number (International publication number):2011156302
Application date: Feb. 03, 2010
Publication date: Aug. 18, 2011
Summary:
【課題】従来技術を用いた画像再構成と比べて、より低いX線被曝量で従来と同程度の再構成画像が取得可能で、メタルアーティファクトを低減可能なX線CT画像処理方法、プログラム及び装置を提供する。【解決手段】本発明のX線CT画像処理方法は、再構成画像に関する事前知識をおいて統計推定を行うX線CT画像処理方法であって、観測されるフォトンに関してポアソン分布などの物理モデルで表現され、上記の再構成画像に関する事前知識は、再構成画像の各画素の領域において定義されるパラメータで、撮像対象の各組織の存在割合を表現するパラメータと、各組織のX線吸収係数を表現するパラメータと、各組織の空間的に連続する度合いを表現するパラメータと、によって特徴付けられる確率分布で表現され、上記の統計推定は、事後確率最大化による推定(MAP推定)、或いは、事後確率の期待値によるベイズ推定であり、画像再構成及び組織クラス推定を行う。【選択図】図1
Claim (excerpt):
X線吸収係数に関する事前知識をおいて統計推定を行うX線CT画像処理方法であって、 前記事前知識は、 再構成画像の各画素の領域において定義されるパラメータで、 撮像対象の各組織の存在割合を表現するパラメータと、 各組織のX線吸収係数を表現するパラメータと、 各組織の空間的に連続する度合いを表現するパラメータと、 によって特徴付けられる確率分布で表現され、 前記統計推定は、 事後確率最大化による推定(MAP推定)、或いは、事後確率の期待値によるベイズ推定で行う、 ことを特徴とするX線CT画像処理方法。
IPC (1):
A61B 6/03
FI (1):
A61B6/03 360B
F-Term (5):
4C093AA22 ,  4C093AA26 ,  4C093CA13 ,  4C093CA34 ,  4C093FE06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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