Art

J-GLOBAL ID：201202207685661960   Reference number：12A0582012

Force Mapping of the NaCl(100)/Cu(111) Surface by Atomic Force Microscopy at 78K

78Kでの原子間力顕微鏡法によるNaCl(100)/Cu(111)表面の力マッピング

Author (8)： LI Yan Jun (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KINOSHITA Yukinori (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  TENJIN Keita (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MA Zong Min (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KOU Li Li (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  NAITOH Yoshitaka (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KAGESHIMA Masami (Tokyo Gakugei Univ., Tokyo, JPN) ,  SUGAWARA Yasuhiro (Osaka Univ., Osaka, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics  (JJAP)
Volume： 51  Issue： 3,Issue 1  Page： 035201.1-035201.5  Publication year： Mar. 25, 2012 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *atomic force microscope ,  substrate(plate) ,  copper ,  *ultrathin film ,  *sodium chloride ,  interaction ,  *attractive force ,  modeling

JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (27)：

• 1) G. Binnig, C. F. Quate, and C. Gerber: Phys. Rev. Lett. 56 (1986) 930.
• 2) F.-J. Giessibl: Science 267 (1995) 68.
• 3) R. Garc隗a and R. Pérez: Surf. Sci. Rep. 47 (2002) 197.
• 4) S. P. Jarvis, H. Yamada, S. I. Yamamoto, N. Tokumoto, and J. B. Pethica: Nature 384 (1996) 247.
• 5) M. A. Lantz, H. J. Hug, R. Hoffmann, P. J. A. van Schendel, P. Kappenberger, S. Martin, A. Baratoff, and H. J. Giintherodt: Science 291 (2001) 2580.

Terms in the title (5)： 原子間力顕微鏡法 ,  NaCl ,  Cu ,  力 ,  マッピング