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J-GLOBAL ID：201202233330617006   Reference number：12A0063229

Improvement of Test Data Compression Rate for Chiba-Scan Testing by Reconstructing Scan Chain

スキャンチェーンの再構成による千葉大スキャンテストデータ圧縮率向上手法

Author (3)： AKAGAWA MASATO (千葉大 大学院融合科学研究科) ,  NAMBA KAZUTERU (千葉大 大学院融合科学研究科) ,  ITO HIDEO (千葉大 大学院融合科学研究科)
Material： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
Volume： 111  Issue： 324(VLD2011 52-90)  Page： 121-126  Publication year： Nov. 21, 2011 
JST Material Number： S0532B  ISSN： 0913-5685  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *circuit design ,  failure ,  *circuit test ,  *Data Compression
Semi thesaurus term： *scan test ,  *scan design ,  Design For Testability ,  delay fault

JST classification (2)： Semiconductor integrated circuit  (NC03162T) ,  Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Terms in the title (5)： スキャン ,  チェーン ,  再構成 ,  テストデータ圧縮 ,  手法