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J-GLOBAL ID：201202297839473931   Reference number：12A0626857

Development of Source Apportionment of Individual Particle by High Resolution Time of Flight-Secondary Ion Mass Spectrometry

高分解能飛行時間型二次イオン質量分析法を用いた微粒子粒別起源解析法の開発

Author (11)： MAYAMA NORIHITO (東京工業大学資源化学研究所) ,  MAYAMA NORIHITO (工学院大学工学部電気システム工学科) ,  GOTO EITA (工学院大学工学部電気システム工学科) ,  MIURA YUSUKE (工学院大学工学部電気システム工学科) ,  OISHI KENJI (工学院大学工学部電気システム工学科) ,  SAKAMOTO TETSUO (工学院大学工学部電気システム工学科) ,  TAKAMI AKINORI (国立環境研究所) ,  HATAKEYAMA SHIRO (東京農工大学大学院農学研究院) ,  BANDO HIROSHI (大阪府立大学大学院工学研究科) ,  MURANO KENTARO (法政大学大学院工学研究科) ,  FUJII MASAAKI (東京工業大学資源化学研究所)
Material： Journal of the Vacuum Society of Japan  (真空)
Volume： 55  Issue： 3  Page： 104-107 (J-STAGE)  Publication year： 2012 
JST Material Number： G0194A  ISSN： 1882-2398  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *secondary ion mass spectrometry ,  *TOF ,  focused ion beam ,  scanning electron microscope ,  multiphoton ionization ,  *complex technology ,  sample ,  analytical instrument ,  *Cluster Analysis ,  aerosol (suspended solids) ,  *suspended particulate matter ,  equipment ,  fine particle ,  career ,  analysis (separation) ,  *air pollutant
Semi thesaurus term： 共鳴多光子イオン化 ,  モデル試料 ,  単一微粒子起源解析装置 ,  個別粒子分析

JST classification (1)： Mass spectrometry  (CC03013N)

Reference (8)：

• TAKAMI, A. J. Geophys. Res. 2007, 112, D22S31
• SAKAMOTO, T. Appl. Surf. Sci. 2008, 255, 1617
• TOMIYASU, B. Nippon Kagaku Kaishi. 1996, 5, 500
• YAMAGUCHI, J. Appl. Surf. Sci. 2008, 255, 1505
• ZENG, J. Atmos. Environ. 2003, 37, 1911

Terms in the title (7)： 高分解能 ,  飛行時間 ,  二次イオン質量分析法 ,  微粒子 ,  起源 ,  解析法 ,  開発