位置姿勢計測装置、位置姿勢計測方法、およびプログラム

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (6)：大塚康徳 , 高柳司郎 , 大塚康弘 , 木村秀二 , 下山治 , 永川行光
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2010185576
Publication number (International publication number)：2012042396
Application date： Aug. 20, 2010
Publication date： Mar. 01, 2012
Summary：

【課題】影が落ちる領域に相当する画像領域から抽出される擬似的な画像特徴の影響を軽減し、フィッティング/マッチングの安定性・精度を向上する。【解決手段】対象物体の2次元画像を取得する画像取得部と、対象物体の距離画像を取得する距離画像取得部と、距離画像の計測不能領域を対象物体に照射される照明が遮蔽される被遮蔽領域として抽出する抽出部と、対象物体の位置姿勢の概略値に基づいて3次元モデルを2次元画像上に投影する投影部と、投影された線分を構成する点とエッジを構成する点とを組として対応付ける対応付け部と、エッジを構成する点が被遮蔽領域内に存在するか否かを判定する判定部と、存在する場合の組が位置姿勢計測に用いられる重み係数を、存在しない場合の重み係数よりも小さく設定する設定部と、対応付けられた線分を構成する点とエッジを構成する点との距離に重み係数を乗じた値の総和が最小となる位置姿勢を計測する計測部と、を備える。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

対象物体の3次元形状情報を含む3次元モデルを保持する保持手段と、前記対象物体の2次元画像を取得する2次元画像取得手段と、前記対象物体の距離画像を取得する距離画像取得手段と、前記距離画像において前記対象物体までの距離値が計測できない計測不能領域を、前記2次元画像において前記対象物体に照射される照明が遮蔽される被遮蔽領域として抽出する抽出手段と、前記対象物体の位置および姿勢の概略値に基づいて、前記3次元モデルを構成する線分を前記2次元画像上に投影する投影手段と、前記投影手段により投影された投影線分を構成する点と、前記2次元画像上のエッジを構成する点とを組として対応付ける対応付け手段と、前記対応付け手段により対応付けられた前記2次元画像上のエッジを構成する点が前記被遮蔽領域の範囲内に存在するか否かを判定する判定手段と、前記判定手段により前記被遮蔽領域の範囲内に存在すると判定された場合に、前記組に対して、前記被遮蔽領域の範囲内に存在しないと判定された場合よりも小さな重み係数を設定する設定手段と、前記対応付け手段により対応付けられた前記投影線分を構成する点と、前記2次元画像上のエッジを構成する点との、前記2次元画像上における距離に前記重み係数を乗じた値の総和が最小となる位置および姿勢を前記対象物体の位置および姿勢として計測する位置姿勢計測手段と、を備えることを特徴とする位置姿勢計測装置。

IPC (4)：

G01B 11/00 , G01B 11/26 , G06T 1/00 , G06T 7/60

FI (4)：

G01B11/00 H , G01B11/26 H , G06T1/00 315 , G06T7/60 150P

F-Term (38)：

2F065AA04 , 2F065AA37 , 2F065DD04 , 2F065EE00 , 2F065FF01 , 2F065FF02 , 2F065FF04 , 2F065FF09 , 2F065HH06 , 2F065JJ03 , 2F065JJ26 , 2F065PP25 , 2F065QQ17 , 2F065QQ24 , 2F065QQ25 , 2F065QQ27 , 2F065QQ45 , 5B057CA13 , 5B057CA17 , 5B057CB12 , 5B057CB17 , 5B057CE15 , 5B057CH09 , 5B057DA07 , 5B057DB03 , 5B057DB08 , 5B057DC08 , 5B057DC33 , 5L096AA06 , 5L096BA05 , 5L096CA02 , 5L096EA39 , 5L096FA06 , 5L096FA12 , 5L096FA38 , 5L096FA67 , 5L096FA69 , 5L096JA03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

情報処理装置、その処理方法及びプログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-308996 Applicant：キヤノン株式会社
立体物識別装置および立体物識別方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2007-227290 Applicant：アルパイン株式会社
監視装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-061075 Applicant：株式会社ニコン

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