電磁放射吸収による加熱を使用して生体組織を検査及び処置するOCTシステムを有するデバイス

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：三好秀和 , 伊藤正和 , 原裕子
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2013506488
Publication number (International publication number)：2013524956
Application date： Apr. 16, 2011
Publication date： Jun. 20, 2013
Summary：

電磁放射吸収による局所加熱を使用して生体組織を検査又は処置するデバイスであって、電磁放射線を放出する少なくとも一つの放射線源と、放射線源の照射パラメータを制御する制御ユニットと、組織が電磁放射を吸収する組織領域を照らすべく測定光を放出する光源を有する少なくとも一つのFD-OCT装置とを含み、計算ユニットが、所定測定点における測定光の放射方向の深さ分解組織速度を、FD-OCT干渉光からの位相情報から決定するステップと、確立された組織速度を時間積分するステップと、計算された時間積分を空間について微分するステップと、空間及び時間の関数として空間導関数を表示し、及び/又は空間及び時間の関数として空間導関数を評価モジュールに与え、及び/又は空間及び時間の関数として空間導関数を制御ユニットに与えるステップとを行う。

Claim (excerpt)：

電磁放射吸収による局所加熱を使用して生体組織を検査又は処置するデバイスであって、・電磁放射線を放出する少なくとも一つの電磁放射線源と、・前記放射線源の照射パラメータを制御する制御ユニットと、・前記電磁放射線が吸収されるエリアを照らすように前記生体組織に測定光を送達する光源を有する少なくとも一つのFD-OCT装置とを含み、計算ユニットが、・前記組織上の所定測定部位に対する前記測定光の所定照射方向沿いの深さ分解組織速度を、前記FD-OCTの干渉光の位相情報に基づいて決定するステップと、・決定された前記組織速度を時間積分するステップと、・計算された前記時間積分を空間について微分するステップと、・空間及び時間の関数として前記空間導関数を表示し、及び/又は空間及び時間の関数として前記空間導関数を評価モジュールに与え、及び/又は空間及び時間の関数として前記空間導関数を前記制御ユニットに与えるステップとを行うデバイス。

IPC (1)：

A61B 3/10

FI (1)：

A61B3/10 R

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

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Gazette classification：公表公報 Application number：特願2010-524209 Applicant：アルコンレンゼックス,インコーポレーテッド
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