Pat
J-GLOBAL ID：201303024072286710

テラヘルツ波発生装置、カメラ、イメージング装置および計測装置

Inventor：
冨岡 紘斗

About 冨岡 紘斗


Applicant, Patent owner：
セイコーエプソン株式会社

About セイコーエプソン株式会社


Agent (2)： 増田 達哉 ,  朝比 一夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2011141089
Publication number (International publication number)：2013007679
Application date： Jun. 24, 2011
Publication date： Jan. 10, 2013
Summary：
【課題】テラヘルツ波の周波数分布を調整することができるテラヘルツ波発生装置、カメラ、イメージング装置および計測装置を提供すること。【解決手段】テラヘルツ波発生装置1は、パルス光を発生する第1の光源および第2の光源と、前記第1の光源および前記第2の光源にて発生したパルス光が照射されることによりテラヘルツ波を発生するアンテナ2とを備え、前記アンテナ2は、ギャップ23を介して対向配置された1対の電極22を有しており、前記第1の光源および前記第2の光源は、前記1対の電極22間に、互いにタイミングをずらしてパルス光を照射するよう構成されている。また、前記第1の光源および前記第2の光源は、それぞれ半導体レーザーである。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
パルス光を発生する第1の光源および第2の光源と、 前記第1の光源および前記第2の光源にて発生したパルス光が照射されることによりテラヘルツ波を発生するアンテナとを備え、 前記アンテナは、ギャップを介して対向配置された1対の電極を有しており、 前記第1の光源および前記第2の光源は、前記1対の電極間に、互いにタイミングをずらしてパルス光を照射するよう構成されていることを特徴とするテラヘルツ波発生装置。
IPC (1)：
G01N 21/35
FI (1)：
G01N21/35 Z
F-Term (10)：
2G059AA05 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059GG01 ,  2G059GG03 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ01 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
Show all
Cited by examiner (4)
Show all
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM