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J-GLOBAL ID：201303026380507460

試料分析素子および検出装置

Inventor： 尼子 淳 ,  杉本 守 ,  小池 秀明
Applicant, Patent owner： セイコーエプソン株式会社
Agent (3)： 井上 一 ,  竹腰 昇 ,  黒田 泰
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2012008162
Publication number (International publication number)：2013148421
Application date： Jan. 18, 2012
Publication date： Aug. 01, 2013
Summary：

【課題】ホットスポットの面密度を高めつつ局在表面プラズモンに伝播表面プラズモンを結合させることができる試料分析素子を提供する。【解決手段】入射光に共鳴するピッチLPで、入射光の波長よりも小さい大きさで誘電体14表面に分散する金属ナノ体15を含む複数の金属ナノ体群16を1方向に配列する。隣接する金属ナノ体群16同士の間で誘電体14表面上を長尺片17が延びる。長尺片17は、入射光に共鳴振動する自由電子を持たない材料から形成される。入射光の働きで金属ナノ体15では局在表面プラズモン共鳴が引き起こされる。ピッチLPの働きで伝播表面プラズモン共鳴が引き起こされる。伝播表面プラズモン共鳴は局在表面プラズモン共鳴に結合する。いわゆるハイブリッドモードが確立される。長尺片17はピッチLPの確立に役立つ。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

誘電体表面と、 入射光の波長よりも小さい大きさで且つ前記誘電体表面に分散する金属ナノ体を含み、前記入射光に共鳴するピッチで少なくとも1方向に配列される複数の金属ナノ体群と、 前記入射光に共鳴振動する自由電子を持たない材料から形成されて、隣接する前記金属ナノ体群同士の間で前記誘電体表面上を延びる長尺片と を備えることを特徴とする試料分析素子。

IPC (1)：

G01N 21/65

FI (1)：

G01N21/65

F-Term (9)：

2G043AA01 ,  2G043CA01 ,  2G043DA05 ,  2G043DA06 ,  2G043EA03 ,  2G043HA01 ,  2G043HA07 ,  2G043HA09 ,  2G043JA03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 電界強化構造、及び該構造を利用した検出装置
  Gazette classification：公表公報   Application number：特願2010-514805   Applicant：ヒューレット-パッカードデベロップメントカンパニーエル.ピー.
• センサチップおよびセンサチップの製造方法並びにそのセンサチップを用いたセンサ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-074903   Applicant：富士写真フイルム株式会社
• 局在表面プラズモン共鳴法と質量分析法によるリガンドの分析方法及びそのためのセンサー素子
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2006-194974   Applicant：学校法人慶應義塾