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J-GLOBAL ID：201303031192611947

アルファ線のinsitu直接測定のためのシステム及びこれに関連する溶液中におけるアルファ放射性核種の放射能を定量化するための方法

Inventor：
ニコラ・ソーレ

About ニコラ・ソーレ


Applicant, Patent owner：
コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ

About コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ


Agent (4)： 村山 靖彦 ,  志賀 正武 ,  渡邊 隆 ,  実広 信哉
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2013532222
Publication number (International publication number)：2013543587
Application date： Oct. 07, 2011
Publication date： Dec. 05, 2013
Summary：
本発明は、廃液のアルファ線のin situ核測定のためのシステム及びこれに関連する方法に関する。そのシステムは、廃液内に浸漬され廃液によって放射されるアルファ線を測定することができるM(Mは1以上の整数)個のアルファ線検出器と称される化学気相成長によって得られたダイヤモンド半導体検出器又はダイヤモンド層で覆われたシリコン半導体検出器と、M個のアルファ線検出器に接続されたP(Pは1以上且つM以下の整数)個の測定チャネルとを含み、P個の測定チャネルの各々は、それらが接続されたアルファ放射線検出器からのアルファ放射能の値又はその和を提供することができて、また、そのシステムは、Pが1よりも大きい場合には、P個の測定チャネルからの結果を合算手段も含む。
Claim (excerpt)：
廃液のアルファ線のin situ核測定のためのシステムであって、 前記廃液内に浸漬され、前記廃液によって放射されるアルファ線を直接測定するためのM個のアルファ線検出器(5)と称される化学気相成長によって得られたダイヤモンド半導体検出器又はダイヤモンド層で覆われたシリコン半導体検出器と、 前記M個のアルファ線検出器に接続されたP個の測定チャネル(6)とを含み、 Mが1以上の整数であり、 Pが1以上且つM以下の整数であり、前記P個の測定チャネル(6)の各々が、前記P個の測定チャネル(6)が接続された前記アルファ線検出器(5)からアルファ放射能の値又はアルファ放射能の値の和を提供し、 前記システムが、Pが1よりも大きい場合には、前記P個の測定チャネルからの結果を合算するための手段を更に含み、 前記M個のアルファ線検出器(5)が、モンテカルロ法に基づいたα粒子輸送コードによって個別に較正され、所定の測定チャネルに接続された前記アルファ線検出器が同じ様に較正される、システム。
IPC (3)：
G01T 1/17 ,  G01T 1/24 ,  G01T 1/167
FI (3)：
G01T1/17 E ,  G01T1/24 ,  G01T1/167 A
F-Term (11)：
2G188AA12 ,  2G188AA23 ,  2G188BB06 ,  2G188CC28 ,  2G188DD24 ,  2G188DD39 ,  2G188DD44 ,  2G188EE29 ,  2G188FF02 ,  2G188FF11 ,  2G188FF29
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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