Pat
J-GLOBAL ID:201303032555613153
レーザ装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
高矢 諭
, 松山 圭佑
, 牧野 剛博
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2011214330
Publication number (International publication number):2013072848
Application date: Sep. 29, 2011
Publication date: Apr. 22, 2013
Summary:
【課題】少なくともモード周波数とオフセット周波数のいずれかを可変とすることで、光出力される光周波数コムの周波数を連続的かつ動的に可変制御可能とする。【解決手段】周波数軸上で櫛状に並んだ複数のスペクトル成分を発生させる第1、第2光周波数コム発生器102、106を有するレーザ装置100において、第1光周波数コム発生器102は、周波数基準に基づき基準となる光出力を行い、第2光周波数コム発生器106は、複数のスペクトル成分のスペクトル間隔を示すモード周波数fvmと複数のスペクトル成分の並びを周波数ゼロ点まで延長したときのゼロ点との間に生じるオフセット周波数fvceoとが変更可能とされるとともに第1光周波数コム発生器102の光出力に基づき安定化された自身の光出力を、レーザ装置100の光出力として出力する。【選択図】図2
Claim (excerpt):
周波数軸上で櫛状に並んだ複数のスペクトル成分を発生させる第1、第2光周波数コム発生器を有するレーザ装置において、
前記第1光周波数コム発生器は、周波数基準に基づき基準となる光出力を行い、
前記第2光周波数コム発生器は、少なくとも前記複数のスペクトル成分のスペクトル間隔を示すモード周波数と該複数のスペクトル成分の並びを周波数ゼロ点まで延長したときのゼロ点との間に生じるオフセット周波数のいずれかが変更可能とされるとともに前記第1光周波数コム発生器の光出力に基づき安定化された自身の光出力を、当該レーザ装置の光出力として出力することを特徴とするレーザ装置。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (4):
2K002AA04
, 2K002AB19
, 2K002BA02
, 2K002EA30
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (5)
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クロック伝送装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-135156
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
-
周波数可変レーザ光源装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-062294
Applicant:アンリツ株式会社
-
レーザ周波数測定方法及びレーザ周波数制御方法並びにレーザ光発生装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-084789
Applicant:財団法人神奈川科学技術アカデミー
-
距離測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-123466
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所, 株式会社トプコン
-
計量機器の遠隔校正システム、および、計量機器の遠隔校正方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-123782
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
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Cited by examiner (5)
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クロック伝送装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-135156
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
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周波数可変レーザ光源装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-062294
Applicant:アンリツ株式会社
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レーザ周波数測定方法及びレーザ周波数制御方法並びにレーザ光発生装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-084789
Applicant:財団法人神奈川科学技術アカデミー
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距離測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2005-123466
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所, 株式会社トプコン
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計量機器の遠隔校正システム、および、計量機器の遠隔校正方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-123782
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
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