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J-GLOBAL ID：201303085132935649

高圧測定可能な示差走査型熱量計及びそれを用いた示差走査型熱流計装置

Inventor： 東崎 健一 ,  稲馬 秀明 ,  西川 恵子 ,  林 英子 ,  王 紹蘭 ,  簑原 誠人 ,  野口 恵
Applicant, Patent owner： 国立大学法人 千葉大学
Agent (1)： 高橋 昌義
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2005128727
Publication number (International publication number)：2006308335
Patent number：4852740
Application date： Apr. 26, 2005
Publication date： Nov. 09, 2006
Claim (excerpt)：

【請求項1】 筒状の側壁部材と、該側壁部材に固定される台座部材と、からなる金属フレームと、 該金属フレームにおける前記台座部材の表裏面のそれぞれに配置され、測定試料又は参照試料を保持し、前記台座部材と前記測定試料の間の温度差に比例する熱起電力、又は、前記台座部材と前記参照試料の間の温度差に比例する熱起電力、をそれぞれ発生させる一対の半導体熱電素子と、 前記金属フレームの側壁部材の開口部分を覆う一対の金属キャップと、を有し、 前記台座部材は、側壁部材近傍の厚さが、半導体熱電素子が配置される部分における厚さよりも薄い示差走査型熱量計。

IPC (2)：

G01K 17/00 ( 200 6.01) ,  G01N 25/20 ( 200 6.01)

FI (2)：

G01K 17/00 A ,  G01N 25/20 C

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 示差走査熱量計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-332903   Applicant：セイコーインスツルメンツ株式会社
• 特開昭59-153156
  
• 熱量計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-179451   Applicant：東崎健一, 稲場秀明
• 変調示差分析の方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-336319   Applicant：ティーエイ・インストゥルメンツ・インコーポレーテッド