Art

J-GLOBAL ID：201402257435487907   Reference number：14A1258491

マルチサイクルテストでの遷移故障に対するテスト生成

Author (5)： FUJIWARA TSUBASA (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  HIGAMI YOSHINOBU (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  WANG S. (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  TAKAHASHI HIROSHI (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  KOBAYASHI SHIN'YA (愛媛大 大学院理工学研究科)
Material： 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM)  (Shikoku-Section Joint Convention Record of the Institutes of Electrical and Related Engineers (CD-ROM))
Volume： 2014  Page： ROMBUNNO.10-13  Publication year： Sep. 12, 2014 
JST Material Number： L1738B  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： electric fault ,  test ,  *stuck-fault ,  evaluation test ,  benchmark ,  *repeat test ,  benchmark testing
Semi thesaurus term： *test generation ,  benchmark test ,  transition fault

JST classification (2)： Semiconductor integrated circuit  (NC03162T) ,  Other system programmings  (JD03070M)

Terms in the title (2)： 遷移故障 ,  テスト生成