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J-GLOBAL ID：201402289839040867   Reference number：14A1387285

Chromosome Interior Observation by Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscopy (FIB/SEM) Using Ionic Liquid Technique

イオン液体技術を用いる集束イオンビーム/走査電子顕微鏡(FIB/SEM)による染色体内部の観察

Author (10)： HAMANO Tohru (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  DWIRANTI Astari (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KANEYOSHI Kohei (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  FUKUDA Shota (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KOMETANI Reo (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  NAKAO Masayuki (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  TAKATA Hideaki (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  UCHIYAMA Susumu (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  OHMIDO Nobuko (Kobe Univ., Kobe, JPN) ,  FUKUI Kiichi (Osaka Univ., Osaka, JPN)
Material： Microscopy and Microanalysis  (Microsc Microanal)
Volume： 20  Issue： 5  Page： 1340-1347  Publication year： Oct. 2014 
JST Material Number： W1587A  ISSN： 1431-9276  Document type： Article
Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (6)： イオン液体 ,  集束イオンビーム ,  走査電子顕微鏡 ,  FIB ,  SEM ,  観察