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J-GLOBAL ID:201403011866428090

化学・物理現象検出方法及びその装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 小西 富雅 ,  中村 知公 ,  木村 誠司
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2013112444
Publication number (International publication number):2014232032
Application date: May. 29, 2013
Publication date: Dec. 11, 2014
Summary:
【課題】CCDタイプやISFETタイプのセンサに好適な検出方法を提供する。【解決手段】検出対象をセンシング部に接触若しくは近接させて、センシング部の電位変化を測定する化学・物理現象検出方法であって、検出対象が捕捉された微小粒体をセンシング部に固定した状態で、センシング部の電位変化を測定する。検出対象を捕捉させた微小粒体をセンシング部に固定しても、微小粒体をセンシング部へ固定した後に検出対象を微小粒体へ捕捉させてもよい。【選択図】図4
Claim (excerpt):
検出対象をセンシング部に接触若しくは近接させて、前記センシング部の電位変化を測定する化学・物理現象検出方法であって、 前記検出対象が捕捉された微小粒体を前記センシング部に固定した状態で、前記センシング部の電位変化を測定する化学・物理現象検出方法。
IPC (2):
G01N 27/414 ,  G01N 27/416
FI (3):
G01N27/30 301Y ,  G01N27/46 386G ,  G01N27/30 301V
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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