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J-GLOBAL ID:201203020609676371
DNA塩基配列解析装置およびDNA塩基配列解析方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (6):
牛木 護
, 吉田 正義
, 今枝 弘充
, 梅村 裕明
, 小合 宗一
, 高橋 知之
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2011050387
Publication number (International publication number):2012080873
Application date: Mar. 08, 2011
Publication date: Apr. 26, 2012
Summary:
【課題】従来技術より長い塩基長のDNA塩基配列を解析することができるDNA塩基配列解析方法およびDNA塩基配列解析装置を提供する。【解決手段】ゲート絶縁膜15を有した電界効果デバイス2と、DNAプローブとターゲットDNAをハイブリダイズし、前記ゲート絶縁膜15上で、酵素および基質を導入し、伸長反応した時のしきい値電圧変化を測定し、前記ターゲットDNAの塩基配列を解析するDNA塩基配列解析装置1において、前記DNAプローブを固定する磁性粒子8と前記磁性粒子8を前記ゲート絶縁膜15に引き寄せる磁石4とを備えたDNA塩基配列解析装置1。【選択図】図1
Claim (excerpt):
ゲート絶縁膜を有した電界効果デバイスを備え、
前記ゲート絶縁膜上に、ターゲットDNAをハイブリダイズしたDNAプローブ及び、酵素と基質を導入して、伸長反応した時のしきい値電圧変化を測定し、前記ターゲットDNAの塩基配列を解析するDNA塩基配列解析装置において、
前記DNAプローブを固定する磁性粒子と、
前記磁性粒子を前記ゲート絶縁膜に引き寄せる磁石と
を備えたことを特徴とするDNA塩基配列解析装置。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (21):
4B024AA11
, 4B024CA01
, 4B024CA09
, 4B024CA11
, 4B024HA12
, 4B029AA07
, 4B029BB20
, 4B029CC02
, 4B029FA15
, 4B063QA01
, 4B063QA13
, 4B063QA18
, 4B063QQ42
, 4B063QQ52
, 4B063QR32
, 4B063QR35
, 4B063QR55
, 4B063QR62
, 4B063QS32
, 4B063QS39
, 4B063QX05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
-
DNA計測システム及びDNA計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-164231
Applicant:株式会社日立製作所
-
固相pH検出を用いたqPCR
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2009-551920
Applicant:ディ・エヌ・エイ・エレクトロニクス・リミテッド
-
ハイブリダイゼーション用基板及びその使用方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-095132
Applicant:理化学研究所, 科学技術振興事業団
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