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J-GLOBAL ID:201403016739212480
胃がんの再発を予測する方法
Inventor:
,
,
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Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
速水 進治
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2014095434
Publication number (International publication number):2014236726
Application date: May. 02, 2014
Publication date: Dec. 18, 2014
Summary:
【課題】簡便かつ精度良く胃がんの再発を予測できる実用的な方法を提供する。【解決手段】本発明は、陰性コントロールプローブが固定された位置で測定された標識断片の測定量を基準として、CEA、TFF1、FABP1、CK20、及びMUC2からなる5種のマーカー遺伝子検出用プローブが固定された位置におけるマーカー遺伝子の標識断片の量に関する測定量の結果が、第一の閾値を超えたとき、胃がん試料が陽性であると判定するステップを含む。【選択図】図1
Claim (excerpt):
胃がん試料中に含まれる胃がん細胞に特異的なマーカー遺伝子の少なくとも一部の領域をポリメラーゼ連鎖反応(Polymerase Chain Reaction、PCR)により増幅するとともに標識して前記マーカー遺伝子の標識断片を取得するステップと、
前記マーカー遺伝子を検出する少なくとも一つのマーカー遺伝子検出用プローブと、植物由来の陰性コントロールプローブとが所定の位置にそれぞれ固定された担体に、前記マーカー遺伝子の前記標識断片を接触させて、前記マーカー遺伝子検出用プローブと前記マーカー遺伝子の前記標識断片とをハイブリダイズさせるステップと、
ハイブリダイズさせる前記ステップの後に、前記マーカー遺伝子検出用プローブが固定された位置、及び、前記陰性コントロールプローブが固定された位置における前記マーカー遺伝子の前記標識断片の量に関する測定量を取得するステップと、
前記陰性コントロールプローブが固定された位置における前記標識断片の量に関する測定量を基準として、前記マーカー遺伝子検出用プローブが固定された位置における前記標識断片の量に関する測定量が第一の閾値を超えたとき、前記胃がん試料が陽性であると判定するステップと、
を含み、
前記胃がん試料が陽性であると判定する前記ステップにおいて、CEA、TFF1、FABP1、CK20、及びMUC2からなる5種の前記マーカー遺伝子を用いて、前記胃がん試料の陽性を判定することを特徴とする胃がんの再発を予測する方法。
IPC (2):
FI (2):
F-Term (20):
4B024AA12
, 4B024CA04
, 4B024CA12
, 4B024HA14
, 4B063QA01
, 4B063QA19
, 4B063QQ02
, 4B063QQ08
, 4B063QQ42
, 4B063QQ53
, 4B063QR32
, 4B063QR36
, 4B063QR40
, 4B063QR56
, 4B063QR62
, 4B063QR72
, 4B063QR77
, 4B063QS25
, 4B063QS34
, 4B063QX02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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微量胃癌細胞の検出法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2006-014420
Applicant:キヤノン株式会社, 国立がんセンター総長
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ヒトHIF3alpha遺伝子およびタンパク質の神経変性疾患に関する診断的および治療的用途
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2006-544454
Applicant:エヴォテックニューロサイエンシスゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
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癌診断のための発現プロフィールアルゴリズムおよび試験
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2006-518761
Applicant:ジェノミックヘルス,インコーポレイテッド
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オリゴヌクレオチドアレイおよび検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-022682
Applicant:株式会社日立製作所
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アレルギー解析方法及びシステム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-204785
Applicant:株式会社日立製作所
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