予測装置の学習装置及びそのコンピュータプログラム

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：清水敏
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2010099327
Publication number (International publication number)：2011227838
Patent number：5603639
Application date： Apr. 23, 2010
Publication date： Nov. 10, 2011
Claim (excerpt)：

【請求項1】症例データから抽出される所定の特性の組のデータが与えられると、当該症例データが得られた患者に関連した所定の事象の発生を予測するように、ADTreeからなる予測モデルを学習するための学習装置であって、学習データを記憶するための記憶手段と、前記記憶手段に記憶された前記学習データから、乱数を用いてリサンプリングすることにより、学習のための複数個のリサンプリングデータセットを作成するためのリサンプリング手段と、前記リサンプリング手段により作成された前記複数個のリサンプリングデータセットの各々を学習データとして用い、前記特性の組を入力として前記所定の事象の発生を予測するように、ADTreeからなる予測モデルの学習を行なうためのADTree学習手段と、前記ADTree学習手段による予測モデルの学習を、終了条件が成立するまで、処理の条件を変化させて繰返し行なうことにより、複数個の予測モデルを作成するためのモデル作成手段と、前記モデル作成手段により作成された前記複数個の予測モデルの、前記学習データに対する予測精度を算出し、最も高い予測精度が得られた予測モデルを出力するためのモデル選択手段とを含み、前記リサンプリング手段は、前記学習データのうち、前記所定の事象が発生した学習データからのサンプル数と、発生しなかった学習データからのサンプル数との比が所定の値となるようにサンプリング比を調整しながら、かつ乱数の種を複数通りに変化させることにより、前記学習データから複数個のリサンプリングデータセットを作成するための手段を含む、学習装置。

IPC (3)：

G06Q 10/04 ( 201 2.01) , G06Q 50/22 ( 201 2.01) , A61B 5/00 ( 200 6.01)

FI (3)：

G06F 19/00 100 , G06Q 50/22 106 , A61B 5/00 G

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

故障原因推測方法、故障原因推測プログラム、及び故障原因推測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2007-309441 Applicant：富士通株式会社
結核の診断
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2008-512907 Applicant：セントジョージズエンタープライゼズリミテッド
臨床検査データの組合わせ集合の抽出システムとこれを用いた腫瘍進行度の判定システム並びに臨床診断支援システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-041389 Applicant：松岡瑠美子

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Cited by examiner (4)

故障原因推測方法、故障原因推測プログラム、及び故障原因推測装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2007-309441 Applicant：富士通株式会社
結核の診断
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2008-512907 Applicant：セントジョージズエンタープライゼズリミテッド
臨床検査データの組合わせ集合の抽出システムとこれを用いた腫瘍進行度の判定システム並びに臨床診断支援システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-041389 Applicant：松岡瑠美子