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J-GLOBAL ID：201403027975636489

高周波材料定数測定システム

Inventor： 駒木根 隆士 ,  黒澤 孝裕 ,  井上 浩 ,  宮永 和明
Applicant, Patent owner： 秋田県 ,  国立大学法人秋田大学
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2009044983
Publication number (International publication number)：2010197316
Patent number：5589180
Application date： Feb. 27, 2009
Publication date： Sep. 09, 2010
Claim (excerpt)：

【請求項1】誘電体の散乱波強度が誘電率と一意の関係にあることを利用し、波長に比べて十分に小さな寸法の被測定誘電体試料の材料定数を測定するための材料定数測定システムにおいて、 周波数を可変できる信号発生器と、 前記信号発生器に接続された送信アンテナと、 信号解析装置と、 前記信号解析装置に接続された受信アンテナと、 電波暗箱と、 を備え、 前記電波暗箱は、該電波暗箱内部に被測定誘電体試料が前記受信アンテナと前記送信アンテナとの間になる関係で前記受信アンテナと前記送信アンテナと被測定誘電体試料とをそれぞれ設置した場合に、前記送信アンテナから送信される電磁波が前記受信アンテナに対して直接達しない形状であって、 前記電波暗箱内に、前記受信アンテナと前記送信アンテナと被測定誘電体試料とを前記関係でそれぞれを配置し、前記信号発生器からの電磁波を前記送信アンテナから前記被測定誘電体試料に照射し、前記被測定誘電体試料からの散乱波を前記受信アンテナで受信して、前記被測定誘電体試料の材料定数を測定することを特徴とする材料定数測定システム。

IPC (2)：

G01N 22/00 ( 200 6.01) ,  G01R 27/26 ( 200 6.01)

FI (4)：

G01N 22/00 L ,  G01N 22/00 U ,  G01N 22/00 Y ,  G01R 27/26 H

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• マイクロ波散乱計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-094793   Applicant：アジア航測株式会社
• 特開昭62-066145
  
• 自由空間法電磁波測定システムおよびその評価方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-088456   Applicant：株式会社フジタ
• 電子機器用試験箱
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-266547   Applicant：日本軽金属株式会社

Cited by examiner (4)

• マイクロ波散乱計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-094793   Applicant：アジア航測株式会社
• 特開昭62-066145
  
• 自由空間法電磁波測定システムおよびその評価方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-088456   Applicant：株式会社フジタ
• 電子機器用試験箱
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-266547   Applicant：日本軽金属株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 「誘電体散乱球を用いた電磁界計測手法」
• 「電磁波の散乱・吸収計測技術の現状と課題」

Cited by examiner (1)

• 「誘電体散乱球を用いた電磁界計測手法」