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J-GLOBAL ID:201403032059033632

円二色性スペクトルの測定方法及び測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 浜野 孝雄 ,  平井 輝一
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2008098471
Publication number (International publication number):2009250765
Patent number:5396572
Application date: Apr. 04, 2008
Publication date: Oct. 29, 2009
Claim (excerpt):
【請求項1】 白色光源から出射した白色光を、単色光に分光せずにサンプルに照射し、 サンプルから出力された光を分光し、 分光した光の光強度を電荷結合素子を用いたセンサを有する検出器で検出し、 検出器による検出結果に基づいてサンプルの円二色性スペクトルを測定する 円二色性スペクトル測定方法であって、 サンプルに照射する前又は照射した後の白色光に偏光変調器を用いて円偏光を与え、 そのゲート動作を前記偏光変調器の変調周波数に同期させたマイクロチャンネルプレートを介して、前記白色光の円偏光成分のみを電荷結合素子を用いたセンサを有する検出器へ入射する ことを特徴とする円二色性スペクトル測定方法。
IPC (1):
G01N 21/19 ( 200 6.01)
FI (1):
G01N 21/19
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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