損傷DNA修復物質のスクリーニング方法

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Applicant, Patent owner：
Agent (6)：高島一 , 土井京子 , 鎌田光宜 , 田村弥栄子 , 山本健二 , 村田美由紀
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2009172521
Publication number (International publication number)：2011024468
Patent number：5549908
Application date： Jul. 23, 2009
Publication date： Feb. 10, 2011
Claim (excerpt)：

【請求項1】末端アルキン修飾ヌクレオシド誘導体と、アジド部分を含む蛍光標識されたレポーター分子とを組み合わせた試薬セットを用いることを特徴とする、DNAが損傷した細胞におけるDNA修復能力を賦活する物質もしくは遺伝子、DNA損傷の誘発を抑制する物質もしくは遺伝子、DNA修復に影響を与える物質もしくは遺伝子、又はDNA損傷を指標とした物質の毒性の有無のスクリーニング方法であって、下記の工程(a)、(b)、(c)及び(d): (a)細胞を紫外線又は変異原で処理し、DNA損傷を誘発する工程、 (b)被験物質、工程(a)で処理した細胞及び末端アルキン修飾ヌクレオシド誘導体を接触させる工程、 (c)上述の工程が終了した細胞における末端アルキン修飾ヌクレオシド誘導体の取り込みを、アジド部分を含む蛍光標識されたレポーター分子を用いて測定し、該取り込みを対照群と比較する工程、並びに (d)前記(c)の比較結果に基づいて、末端アルキン修飾ヌクレオシド誘導体の取り込み率を変化させる物質を選択する工程を含み、工程(a)の細胞はヌクレオシド誘導体の取り込みのイメージングにより同定された非S期細胞であり、該取り込みは、S期細胞では測定されず、該測定は、CCDカメラを備えた蛍光顕微鏡またはハイスループットイメージングシステムを用いて行われる、スクリーニング方法。

IPC (4)：

C12Q 1/02 ( 200 6.01) , C12M 1/34 ( 200 6.01) , G01N 33/15 ( 200 6.01) , G01N 33/50 ( 200 6.01)

FI (4)：

C12Q 1/02 , C12M 1/34 A , G01N 33/15 Z , G01N 33/50 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

核酸を標識するための方法および組成物
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2008-537959 Applicant：プレジデント・アンド・フエローズ・オブ・ハーバード・カレツジ, インヴィトロジェンコーポレーション

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

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