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J-GLOBAL ID:201403042149384316

磁気抵抗素子及び磁気メモリ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (13): 蔵田 昌俊 ,  福原 淑弘 ,  中村 誠 ,  野河 信久 ,  峰 隆司 ,  河野 直樹 ,  砂川 克 ,  井関 守三 ,  赤穂 隆雄 ,  井上 正 ,  佐藤 立志 ,  岡田 貴志 ,  堀内 美保子
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2012250338
Publication number (International publication number):2014099497
Application date: Nov. 14, 2012
Publication date: May. 29, 2014
Summary:
【課題】 磁気抵抗素子の絶縁不良を抑制する。【解決手段】 実施形態による磁気抵抗素子は、第1の磁性層13と、第2の磁性層15と、第1の磁性層と第2の磁性層との間に設けられた中間層14と、第1の磁性層の中間層が設けられた面と反対面に設けられ、Hf、Al、Mg及びTiの中から選択された1つ以上の元素とBとを含む第1の層12Aと、第1の層の第1の磁性層が設けられた面と反対面に設けられ、Hf、Al及びMgの中から選択された1つ以上の元素とBとを含む第2の層12Bと、中間層の側壁に設けられ、第2の層に含まれるHf、Al及びMgの中から選択された1つ以上の元素を含む絶縁層20と、を具備する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
第1の磁性層と、 第2の磁性層と、 前記第1の磁性層と前記第2の磁性層との間に設けられた中間層と、 前記第1の磁性層の前記中間層が設けられた面と反対面に設けられ、Hf、Al、Mg及びTiの中から選択された1つ以上の元素とBとを含む第1の層と、 前記第1の層の前記第1の磁性層が設けられた面と反対面に設けられ、Hf、Al及びMgの中から選択された1つ以上の元素とBとを含む第2の層と、 前記第2の層の前記第1の層が設けられた面と反対面に設けられ、Hf、Al、Mg、Ti、Ta、Mn、Zr、Ca、Sr、Y、Ba、La、Ce、Sm、Eu、Ybの中から選択された1つ以上の元素とBとを含む第3の層と、 前記中間層の側壁に設けられ、前記第2の層に含まれる前記Hf、Al及びMgの中から選択された1つ以上の元素とBとを含む絶縁層と、 を具備し、 前記第2の下地層の膜厚は、前記第1の下地層の膜厚よりも厚く、 前記第1の磁性層は、記憶層である、磁気抵抗素子。
IPC (7):
H01L 43/10 ,  H01L 43/12 ,  H01L 43/08 ,  H01L 27/105 ,  H01L 21/824 ,  H01L 29/82 ,  H01L 21/306
FI (6):
H01L43/10 ,  H01L43/12 ,  H01L43/08 Z ,  H01L27/10 447 ,  H01L29/82 Z ,  H01L21/302 105A
F-Term (48):
4M119AA03 ,  4M119AA19 ,  4M119BB01 ,  4M119CC05 ,  4M119DD07 ,  4M119DD15 ,  4M119DD17 ,  4M119DD33 ,  4M119DD34 ,  4M119DD45 ,  4M119DD55 ,  4M119EE22 ,  4M119EE27 ,  4M119FF05 ,  4M119FF16 ,  4M119FF17 ,  4M119JJ13 ,  5F004AA09 ,  5F004BA11 ,  5F004DA00 ,  5F004DA23 ,  5F004DB08 ,  5F004DB12 ,  5F004EA13 ,  5F004EB08 ,  5F004FA08 ,  5F092AA02 ,  5F092AA11 ,  5F092AB08 ,  5F092AC12 ,  5F092AD23 ,  5F092AD25 ,  5F092BB10 ,  5F092BB23 ,  5F092BB36 ,  5F092BB43 ,  5F092BB55 ,  5F092BB81 ,  5F092BC03 ,  5F092BC11 ,  5F092BC12 ,  5F092BC18 ,  5F092BC43 ,  5F092BE25 ,  5F092BE27 ,  5F092CA09 ,  5F092CA13 ,  5F092CA17
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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