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J-GLOBAL ID:201403060423580320

粒子観察装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5): 三好 秀和 ,  岩▲崎▼ 幸邦 ,  伊藤 正和 ,  高橋 俊一 ,  高松 俊雄
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2010004029
Publication number (International publication number):2011145094
Patent number:5499723
Application date: Jan. 12, 2010
Publication date: Jul. 28, 2011
Claim (excerpt):
【請求項1】 粒子に光を照射する光照射手段と、 前記光照射手段らかの光が照射された前記粒子を撮像する撮像手段と、 前記撮像手段により撮像された粒子の画像を解析する画像解析手段と、 前記粒子を挟んで上下左右の4方向に配置され、電流により磁力線を発生させる4個のコイルを有し、前記磁力線により前記粒子を移動させるための粒子移動手段と、 前記画像解析手段によって解析された画像解析情報に含まれる前記粒子の位置情報に基づいて、前記4個のコイルに対して電流を供給し、前記4個のコイルの内の上下方向のコイルで発生した前記磁力線により前記粒子の上下方向の速度をゼロにし左右方向のコイルで発生した前記磁力線により前記粒子の左右方向の速度をゼロにして前記粒子を所望の位置に停止させ、又は、前記4個のコイルの各々のコイルに電流を供給する制御を繰り返し行い前記粒子の回転運動の大きさを制御し前記電流を供給する時間間隔を変えることにより前記粒子の回転速度を制御することにより前記4個のコイルで発生した前記磁力線により前記粒子を観察部で回転させる粒子移動制御手段とを備えることを特徴とする粒子観察装置。
IPC (1):
G01N 15/00 ( 200 6.01)
FI (1):
G01N 15/00 A
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (7)
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