Pat
J-GLOBAL ID:201403060423580320
粒子観察装置
Inventor:
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,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
三好 秀和
, 岩▲崎▼ 幸邦
, 伊藤 正和
, 高橋 俊一
, 高松 俊雄
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2010004029
Publication number (International publication number):2011145094
Patent number:5499723
Application date: Jan. 12, 2010
Publication date: Jul. 28, 2011
Claim (excerpt):
【請求項1】 粒子に光を照射する光照射手段と、
前記光照射手段らかの光が照射された前記粒子を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段により撮像された粒子の画像を解析する画像解析手段と、
前記粒子を挟んで上下左右の4方向に配置され、電流により磁力線を発生させる4個のコイルを有し、前記磁力線により前記粒子を移動させるための粒子移動手段と、
前記画像解析手段によって解析された画像解析情報に含まれる前記粒子の位置情報に基づいて、前記4個のコイルに対して電流を供給し、前記4個のコイルの内の上下方向のコイルで発生した前記磁力線により前記粒子の上下方向の速度をゼロにし左右方向のコイルで発生した前記磁力線により前記粒子の左右方向の速度をゼロにして前記粒子を所望の位置に停止させ、又は、前記4個のコイルの各々のコイルに電流を供給する制御を繰り返し行い前記粒子の回転運動の大きさを制御し前記電流を供給する時間間隔を変えることにより前記粒子の回転速度を制御することにより前記4個のコイルで発生した前記磁力線により前記粒子を観察部で回転させる粒子移動制御手段とを備えることを特徴とする粒子観察装置。
IPC (1):
FI (1):
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
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光誘起誘電泳動装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-162824
Applicant:国立大学法人京都大学
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析出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-223115
Applicant:クラスターテクノロジー株式会社, 八尾健
-
粒子および電磁放射線の検出、測定および制御
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2007-545990
Applicant:オーストラロ・リミテッド
-
粒子形状等の測定方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-010706
Applicant:工業技術院長
-
位置決め装置および位置決め方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-049907
Applicant:樋口俊郎, 駿河精機株式会社
-
電界ケージ内において微小粒子を形成する方法およびそのための装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平7-522065
Applicant:フラウンホーファーゲゼルシャフトツールフェルデルングデァアンゲヴァンテンフォルシュングエーファウ
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磁気勾配下液中微粒子磁気トラップ分離方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-278023
Applicant:大阪大学長
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Cited by examiner (7)
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光誘起誘電泳動装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2007-162824
Applicant:国立大学法人京都大学
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析出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2004-223115
Applicant:クラスターテクノロジー株式会社, 八尾健
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磁気勾配下液中微粒子磁気トラップ分離方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-278023
Applicant:大阪大学長
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粒子および電磁放射線の検出、測定および制御
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2007-545990
Applicant:オーストラロ・リミテッド
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粒子形状等の測定方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-010706
Applicant:工業技術院長
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位置決め装置および位置決め方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-049907
Applicant:樋口俊郎, 駿河精機株式会社
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電界ケージ内において微小粒子を形成する方法およびそのための装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平7-522065
Applicant:フラウンホーファーゲゼルシャフトツールフェルデルングデァアンゲヴァンテンフォルシュングエーファウ
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