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J-GLOBAL ID:201403062660757962

高速中性子の線量分布測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 戸川 公二
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2010047693
Publication number (International publication number):2011185600
Patent number:5464351
Application date: Mar. 04, 2010
Publication date: Sep. 22, 2011
Claim (excerpt):
【請求項1】 加速器から陽子ビームBを導入するビームダクトDの出射部にターゲットT及び減速材Mを配置して成る中性子照射装置に対し、前記ターゲットTのビーム照射点Pから陽子ビームBの進行方向に所定距離離れた位置に、中性子による核反応の閾値が0.1MeV以上の放射化箔F1を基準として設置すると共に、この基準とした放射化箔F1の鉛直方向、水平方向或いは斜め方向に、前記ビーム照射点Pを中心として所定角度ごとに、かつ、ビーム照射点Pからの距離が一定となるように、複数の放射化箔F2・F3...を円周上に配置して、前記中性子照射装置から中性子の照射を行った後、放射化箔F1・F2...中に生成された放射性物質から放出される所定エネルギーのγ線の強度を測定して、前記中性子照射装置のターゲットTから放出される高速中性子の角度分布及び強度を測定することを特徴とする高速中性子の線量分布測定方法。
IPC (3):
G01T 3/00 ( 200 6.01) ,  G01T 1/29 ( 200 6.01) ,  G21K 5/02 ( 200 6.01)
FI (3):
G01T 3/00 G ,  G01T 1/29 C ,  G21K 5/02 N
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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