障害診断システム、障害診断装置および障害診断方法

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：井上誠一
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2009067379
Publication number (International publication number)：2010218492
Patent number：5504658
Application date： Mar. 19, 2009
Publication date： Sep. 30, 2010
Claim (excerpt)：

【請求項1】複数の機能モジュールが互いに信号をやり取りすることにより動作するシステムにおいて発生した障害を診断する障害診断システムであって、診断対象のシステムにおける正常時と異常時のデータログを取得するデータログ取得手段と、前記データログに含まれる複数の信号を加工して、加工後の信号の値を同一時刻ごとに纏めた時系列データを生成する時系列データ生成手段と、異常時の時系列データのそれぞれを全ての正常時の時系列データと比較し、値が相違する信号値の集まりを相違信号集合として算出する相違信号集合算出手段と、全ての前記相違信号集合を充足することを制約条件とし、各信号の値が障害発生条件の構成要素であることを否定する論理式に同じ重みを設定することで最大充足可能性問題の形に定式化する定式化手段と、前記最大充足可能性問題の解を算出し、算出された解を否定する論理式を制約条件として逐次追加して再度解を算出する処理を、解が存在しなくなるまで繰り返すことで、障害発生条件となる信号の値または信号の値の組み合わせを算出する障害発生条件算出手段と、を具備することを特徴とする障害診断システム。

IPC (4)：

G06F 11/22 ( 200 6.01) , G06N 5/04 ( 200 6.01) , G06F 11/34 ( 200 6.01) , G05B 23/02 ( 200 6.01)

FI (5)：

G06F 11/22 360 C , G06F 11/22 360 E , G06N 5/04 550 N , G06F 11/34 C , G05B 23/02 T

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

予防保全方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-010122 Applicant：株式会社日立製作所
故障箇所特定システム、故障箇所特定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-297583 Applicant：株式会社豊田中央研究所
半導体集積回路の故障診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-330681 Applicant：松下電器産業株式会社

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Cited by examiner (4)

予防保全方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-010122 Applicant：株式会社日立製作所
故障箇所特定システム、故障箇所特定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2008-297583 Applicant：株式会社豊田中央研究所
半導体集積回路の故障診断装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-330681 Applicant：松下電器産業株式会社