中性子照射量測定方法及び中性子照射量測定装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：高田幸彦 , 橋本宏之
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2009165399
Publication number (International publication number)：2011021923
Patent number：5388288
Application date： Jul. 14, 2009
Publication date： Feb. 03, 2011
Claim (excerpt)：

【請求項1】被検出部材に所定の組成のタグガスを含ませておき、この被検出部材が中性子照射により破損することによって放出されたタグガスの組成を計測し、該組成の変化量を算出することにより、被検出部材の破損に至る中性子照射量を求めるクリープ破断試験における試験片に対する中性子照射量測定方法において、前記被検出部材はクリープ破断試験片であり、前記クリープ破断試験片に含ませるタグガスは、129Xeと130Xeであり、前記タグガスを含ませた前記クリープ破断試験片を原子炉容器内に設置して中性子を照射し、ボイド検出装置によって原子炉容器内に設置した前記クリープ破断試験片が破断ことにより発生する温度のゆらぎに基づいて前記クリープ破断試験片に破断が発生したことを検出し、前記クリープ破断試験片が破断することによって放出されたタグガスをサンプリングして該タグガスの組成を波長可変システムと飛行時間型質量分析計を使用してレーザ共鳴イオン化質量分析法によって測定し、測定したタグガスの組成の変化量の検出は、前記クリープ破断試験片に含ませたタグガスの129Xeと130Xeの比と、前記クリープ破断試験片破断検出後に採取して測定されたタグガスの129Xeと130Xeの比の変化量を算出することにより行うことを特徴とするクリープ破断試験における試験片に対する中性子照射量測定方法。

IPC (1)：

G21C 17/07 ( 200 6.01)

FI (2)：

G21C 17/06 T , G21C 17/06 L

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (9)

特開昭61-105493
特開昭61-097593
特開平3-041396

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Cited by examiner (2)

特開昭61-105493
特開昭61-097593

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