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J-GLOBAL ID:201403088315372496

導通検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5): 三好 秀和 ,  岩▲崎▼ 幸邦 ,  高橋 俊一 ,  伊藤 正和 ,  高松 俊雄
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2012250175
Publication number (International publication number):2014098612
Application date: Nov. 14, 2012
Publication date: May. 29, 2014
Summary:
【課題】静電気を帯電させた電線の電位測定結果により電線の導通状態を非接触で検査する際に、検査後の電線から静電気を漏洩させやすくすること。【解決手段】導通検査する対象の電線51,53の中間部51c,53cに沿って、接地電位(0V)とした基準電極板7を配置し、導通検査後の電線51,53に帯電した静電気の放電経路(正電荷の漏洩経路)を基準電極板7により確保する。これにより、導通検査後の電線51,53が静電気を蓄えたままとなるのを防ぐ。また、給電プローブ3a,3bへの電圧印加により電線51,53に帯電した静電気の電位を、電線51,53の端子51b,53bの表面電位を通じて、基準電極板7の接地電位(0V)に対する絶対電位として計測器13で測定する。これにより、電線51,53間の浮遊容量によるクロストークの影響を受けずに、電線51,53の静電気の電位を正確に測定する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
電線の一端の端子に非接触状態で対向させた一方のプローブへの電圧印加によって静電気を帯電させた前記電線の他端の端子の表面電位を、該他端の端子に非接触状態で対向させた他方のプローブを通じて測定し、その結果に基づいて前記電線の導通状態を検査する装置であって、 前記電線の中間部に沿って配置され、前記電線の静電気の電位よりも低い電位に固定された基準電極板を備える、 ことを特徴とする導通検査装置。
IPC (1):
G01R 31/02
FI (1):
G01R31/02
F-Term (5):
2G014AA02 ,  2G014AA13 ,  2G014AB38 ,  2G014AC06 ,  2G014AC10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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