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J-GLOBAL ID：201503005025102890

異常診断装置及びプログラム

Inventor：
田川 貴章

About 田川 貴章


Applicant, Patent owner：
株式会社豊田中央研究所

About 株式会社豊田中央研究所


Agent (1)： 井上 誠一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014044297
Publication number (International publication number)：2015170121
Application date： Mar. 06, 2014
Publication date： Sep. 28, 2015
Summary：
【課題】車載システムの異常診断において、異常の検出能力及び要因解析能力が十分な性能を持つ異常診断装置等を提供する。【解決手段】異常診断装置は、車両データのうち、正常であることが既知の正常データを取得し(ステップS1)、正常データから複数の特徴因子を抽出し(ステップS2〜S4)、特徴因子のデータ分布を学習し、監視モデルを生成する(ステップS5)。次に、異常診断装置は、異常診断の評価対象となる評価データを取得し、評価データから特徴因子を抽出し、監視モデルに基づいて異常判定を行う。また、異常診断装置は、正常と判断された特徴因子のみによって、特徴因子の空間のデータを車両データと同一の空間に逆変換し、再構成データを生成し、評価データと再構成データとの差分に基づいて異常の要因解析を行う。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
多系列の時系列データである車両データに基づいて車両の異常を診断する異常診断装置であって、 前記車両データのうち、正常であることが既知の正常データを取得する正常データ取得手段と、 前記正常データから複数の特徴因子を抽出する特徴因子抽出手段と、 前記特徴因子のデータ分布を学習し、監視モデルを生成するモデル生成手段と、 前記車両データのうち、異常診断の評価対象となる評価データを取得する評価データ取得手段と、 前記評価データから前記特徴因子を抽出し、前記監視モデルに基づいて異常判定を行う異常判定手段と、 前記異常判定手段によって正常と判断された前記特徴因子のみによって、前記特徴因子の空間のデータを前記車両データと同一の空間に逆変換し、再構成データを生成する再構成データ生成手段と、 前記評価データと前記再構成データとの差分に基づいて異常の要因解析を行う異常要因解析手段と、 を備えることを特徴とする異常診断装置。
IPC (1)：
G05B 23/02
FI (2)：
G05B23/02 T ,  G05B23/02 302S
F-Term (13)：
3C223AA16 ,  3C223BA03 ,  3C223CC02 ,  3C223DD03 ,  3C223FF04 ,  3C223FF12 ,  3C223FF22 ,  3C223FF24 ,  3C223FF26 ,  3C223FF35 ,  3C223FF45 ,  3C223GG01 ,  3C223HH01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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