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J-GLOBAL ID：201503006792792377

ステント検出装置、ステント画像表示装置、およびそのプログラムと方法。

Inventor： 中島 康博 ,  伊能 教夫 ,  木村 仁 ,  有田 圭佑 ,  岡村 誉之
Applicant, Patent owner： 株式会社ワイディ ,  国立大学法人東京工業大学 ,  国立大学法人山口大学
Agent (1)： 西原 広徳
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2014029433
Publication number (International publication number)：2015150369
Application date： Feb. 19, 2014
Publication date： Aug. 24, 2015
Summary：

【課題】検出用の光等を一部透過するステントを精度よく検出できるステント検出装置、ステント画像表示装置、およびそのプログラムと方法を提供する。【解決手段】ステント検出装置を、ラインデータからステントである確度が高い高確度ステントエッジ点を高輝度の閾値を用いて検出する高確度検出処理と、高確度の閾値よりも輝度の低い低輝度の閾値を用いてステントエッジ候補点を検出する低確度検出処理と、高確度ステントエッジ点の近傍の前記ステントエッジ候補点を高確度ステントエッジ点と判定する処理を繰り返して高精度のステントエッジ検出を行う。【選択図】図5

Claim (excerpt)：

ステントが留置されている管状器官の内部に挿入したプローブの軸径方向に検出値を記録したラインデータを前記管状器官の全周でまとめた二次元断層データとして軸方向へ複数集めた走査データを取得するデータ取得手段と、 ステントを検出するステント検出手段とを備え、 前記ステント検出手段は、 前記ラインデータからステントである確度が高い高確度ステントエッジ点を高輝度の閾値を用いて検出する高確度検出処理と、 前記高確度の閾値よりも輝度の低い低輝度の閾値を用いてステントエッジ候補点を検出する低確度検出処理と、 前記高確度ステントエッジ点の近傍の前記ステントエッジ候補点を高確度ステントエッジ点と判定する処理を繰り返して高精度のステントエッジ検出を行う精度向上処理とを実行する構成である ステント検出装置。

IPC (3)：

A61B 1/00 ,  A61F 2/82 ,  G06T 1/00

FI (4)：

A61B1/00 300D ,  A61F2/82 ,  G06T1/00 290Z ,  A61B1/00 300T

F-Term (15)：

4C161BB08 ,  4C161HH51 ,  4C161PP20 ,  4C167AA44 ,  4C167AA45 ,  4C167AA56 ,  4C167CC07 ,  4C167CC08 ,  4C167GG21 ,  4C167GG43 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC22