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J-GLOBAL ID：201503010239971554

パノラマエックス線写真を利用した診断支援システム、及びパノラマエックス線写真を利用した診断支援プログラム

Inventor： 藤田 廣志 ,  原 武史 ,  勝又 明敏 ,  林 達郎
Applicant, Patent owner： 国立大学法人岐阜大学 ,  メディア株式会社 ,  タック株式会社
Agent (1)： アイアット国際特許業務法人
Gazette classification：特許公報
Application number (International application number)：2013505911
Patent number：5763172
Application date： Mar. 13, 2012
Claim (excerpt)：

【請求項1】 診断支援コンピュータを使用してパノラマエックス線写真を解析し、診断支援情報を提供可能な診断支援システムであって、 前記診断支援コンピュータは、 適正撮影条件及び非適正撮影条件を含む複数の撮影条件に基づいて下顎骨モデル提供者の下顎骨領域の前記パノラマエックス線写真をそれぞれ撮影し、複数の下顎骨モデルデータを取得するモデルデータ取得手段と、 取得された前記下顎骨モデルデータから前記下顎骨の輪郭を抽出し、輪郭モデルデータを生成する輪郭モデル生成手段と、 生成された輪郭モデルデータを撮影位置、撮影姿勢、及び画像品質に係る撮影情報及び前記下顎骨モデル提供者に関する年齢、性別、及び疾病履歴を含む提供者情報と併せて記憶し、輪郭モデルデータベースを構築する輪郭データベース記憶手段と、 診断支援対象の被験者の下顎骨領域のパノラマエックス線写真を撮影して取得された診断画像データの入力を受付ける診断画像データ受付手段と、 受付けた前記診断画像データから前記下顎骨のエッジデータを抽出するエッジ抽出手段と、 抽出された前記エッジデータと前記輪郭モデルデータベースの複数の輪郭モデルデータとを照合し、類似する前記輪郭モデルデータを検索する類似モデル検索手段と、 類似検索された前記輪郭モデルデータの前記撮影情報に基づいて、前記診断画像データの撮影位置及び撮影姿勢に係る位置適正を判定する位置判定手段と、 類似検索された前記輪郭モデルデータの前記撮影情報に基づいて、前記診断画像データの濃度プロフィール及びコントラストを含む画像品質の適正度を判定する画像品質判定手段と を具備することを特徴とするパノラマエックス線写真を利用した診断支援システム。

IPC (3)：

A61B 6/14 ( 200 6.01) ,  A61B 6/00 ( 200 6.01) ,  G06T 1/00 ( 200 6.01)

FI (4)：

A61B 6/14 311 ,  A61B 6/00 350 D ,  A61B 6/00 360 Z ,  G06T 1/00 290 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 画像認識によるX線撮影条件の自動設定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-312552   Applicant：株式会社吉田製作所
• 歯形情報本人同定システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2007-222590   Applicant：大日本印刷株式会社