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J-GLOBAL ID：201503011303071445

試料作製装置および試料作製方法

Inventor： 川合 知二 ,  谷口 正輝 ,  龍崎 奏 ,  橘田 和美 ,  高畠 令王奈 ,  真野 潤一 ,  中江 裕樹 ,  布藤 聡 ,  吉井 淳治
Applicant, Patent owner： 国立大学法人大阪大学 ,  国立研究開発法人農業・食品産業技術総合研究機構 ,  特定非営利活動法人バイオチップコンソーシアム
Agent (6)： 大野 聖二 ,  森田 耕司 ,  田中 玲子 ,  鈴木 守 ,  加藤 真司 ,  津田 理
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2015072796
Publication number (International publication number)：2015198652
Application date： Mar. 31, 2015
Publication date： Nov. 12, 2015
Summary：

【課題】ごく微量の試料を含む標準物質の安定供給を可能にすることのできる試料作製装置の提供。【解決手段】絶縁体でコートされ、貫通孔が設けられた導電性基板と、導電性基板を挟むように配置された電極対と、電極対に接続され、試料が貫通孔を通過するときのイオン電流値の変化を測定する電流検出装置を備える試料作製装置。イオン電流値の変化を測定することにより、貫通孔を通過した試料の分子数が測定される。これにより、分子数測定済みの試料が作製される。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

分子数測定済みの試料を作製するための試料作製装置であって、 前記試料作製装置は、 絶縁体でコートされ、貫通孔が設けられた導電性基板と、 前記導電性基板を挟むように配置された電極対と、 前記電極対に接続され、試料が前記貫通孔を通過するときのイオン電流値の変化を測定する電流検出装置と、 を備え、 前記イオン電流値の変化を測定することにより、前記貫通孔を通過した試料の分子数が測定されることを特徴とする試料作製装置。

IPC (2)：

C12M 1/00 ,  C12M 1/34

FI (2)：

C12M1/00 A ,  C12M1/34 D

F-Term (12)：

4B024AA11 ,  4B024CA01 ,  4B024CA09 ,  4B024CA11 ,  4B024CA20 ,  4B024HA11 ,  4B029AA07 ,  4B029BB20 ,  4B029CC01 ,  4B029CC02 ,  4B029FA09 ,  4B029FA15

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• ゲーティングナノポアを用いた1分子検出