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J-GLOBAL ID：201503063978828765

光学ユニット及び光学分析装置

Inventor：
上村 一平

About 上村 一平


Applicant, Patent owner：
NECソリューションイノベータ株式会社

About NECソリューションイノベータ株式会社


Agent (1)： 特許業務法人ワンディーIPパートナーズ
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2013122434
Publication number (International publication number)：2014240758
Application date： Jun. 11, 2013
Publication date： Dec. 25, 2014
Summary：
【課題】光学分析装置の小型化を図り得る、光学ユニット及び光学分析装置を提供する。【解決手段】光学ユニット100は、分析対象に光を照射する発光部10と、分析対象で反射又は拡散された光を受光する受光部20と、これらを実装する実装基板30と、光透過性の板状部材40とを備える。板状部材40は、実装基板30に実装された発光部10及び受光部20を覆うように配置される。発光部10、受光部20、及び板状部材40の位置は、分析対象が板状部材40に接触している場合に、発光部10から出射された光が、分析対象で反射又は拡散された後に、2つ以上の受光部20に入射するように設定されている。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
分析対象に光を照射する発光部と、前記分析対象で反射又は拡散された光を受光する複数の受光部と、前記発光部及び複数の前記受光部を実装する実装基板と、光透過性を有する板状部材とを備え、 前記板状部材は、前記実装基板に実装された前記発光部及び複数の前記受光部を覆うように配置され、 前記発光部、前記受光部、及び前記板状部材、それぞれの位置は、前記分析対象が前記板状部材に接触している場合に、前記発光部から出射された光が、前記分析対象で反射又は拡散された後に、2つ以上の前記受光部に入射するように、設定されている、 ことを特徴とする光学ユニット。
IPC (2)：
G01N 21/49 ,  G01N 21/17
FI (2)：
G01N21/49 Z ,  G01N21/17 610
F-Term (19)：
2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB08 ,  2G059BB13 ,  2G059CC09 ,  2G059CC13 ,  2G059CC14 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059GG02 ,  2G059GG03 ,  2G059JJ03 ,  2G059JJ21 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM12 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (8)
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