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J-GLOBAL ID:201503068919258094
エネルギー分析器の軸合わせ方法及び装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
西澤 利夫
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2011017142
Publication number (International publication number):2012160261
Patent number:5711552
Application date: Jan. 28, 2011
Publication date: Aug. 23, 2012
Claim (excerpt):
【請求項1】 エネルギー偏向器を備え、1次ビームを試料に照射し発生する2次電子を検出することにより試料の観察を行うエネルギー分析器の軸と1次ビームの軸とを3次元的に軸合わせするための方法であって、
試料を3次元的(x方向、y方向、z方向)に移動可能な試料ステージに載置し、
エネルギー偏向器の直前に、スリットを備えた2次電子捕集器を設け、
エネルギー偏向器の直前に設けた2次電子捕集器のスリットから特定の信号電子を通過させ、エネルギー偏向器を通して出射した特定の信号電子の前記スペクトル強度Ispectrを検出するとともに、2次電子捕集器により2次電子を捕集し、2次電子強度Isを検出し、特定の信号電子のスペクトル強度Ispectrと2次電子の強度との比Ispectr/Isを算出し、x-y平面で1次ビームを移動させ、前記の算出法によりx-y平面における位置に対する強度比Ispectr/Isの曲線を得て、ピーク位置を求めるとともに、試料をz方向に移動させ、前記の算出法によりz方向の位置に対する強度比Ispectr/Isの曲線を得て、ピーク位置を求め、
x-y平面における前記ピーク位置とz方向における前記ピーク位置を最適点とすることを特徴とするエネルギー分析器の軸合わせ方法。
IPC (4):
H01J 49/44 ( 200 6.01)
, H01J 49/48 ( 200 6.01)
, H01J 37/244 ( 200 6.01)
, H01J 37/04 ( 200 6.01)
FI (4):
H01J 49/44
, H01J 49/48
, H01J 37/244
, H01J 37/04 B
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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