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J-GLOBAL ID:201603003759547098

薄膜トランジスタおよびその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 上羽 秀敏 ,  松山 隆夫 ,  坂根 剛 ,  川上 桂子
Gazette classification:特許公報
Application number (International application number):2014531457
Patent number:5856303
Application date: Aug. 23, 2012
Claim (excerpt):
【請求項1】 一主面に凹凸形状がストライプ状または碁盤目状に形成されたシリコン基板と、 前記凹凸形状の凸部の長さ方向に沿って複数の凸部上に配置され、各々が前記シリコン基板の法線方向に成長した複数のカーボンナノウォール薄膜からなるチャネル層と、 前記複数のカーボンナノウォール薄膜の各々において前記カーボンナノウォール薄膜の厚み方向に平行な第1の側面に少なくとも接するソース電極と、 前記カーボンナノウォール薄膜の面内方向において前記ソース電極に対向するように配置され、前記複数のカーボンナノウォール薄膜の各々において前記第1の側面に対向する第2の側面に少なくとも接するドレイン電極と、 ゲート電極と、 前記複数のカーボンナノウォール薄膜と前記ゲート電極との間に配置された絶縁膜とを備える薄膜トランジスタ。
IPC (5):
H01L 29/786 ( 200 6.01) ,  H01L 21/336 ( 200 6.01) ,  H01L 29/06 ( 200 6.01) ,  H01L 21/28 ( 200 6.01) ,  H01L 29/41 ( 200 6.01)
FI (10):
H01L 29/78 618 B ,  H01L 29/78 626 C ,  H01L 29/78 618 C ,  H01L 29/78 617 N ,  H01L 29/78 627 Z ,  H01L 29/06 601 N ,  H01L 21/28 301 B ,  H01L 21/28 301 R ,  H01L 21/28 301 A ,  H01L 29/44 S
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)

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